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高級(jí)HDL綜合和SoC原型設(shè)計(jì)

高級(jí)HDL綜合和SoC原型設(shè)計(jì)

定  價(jià):78 元

叢書名:數(shù)字IC設(shè)計(jì)工程師叢書

        

  • 作者:魏東,孫健
  • 出版時(shí)間:2025/1/1
  • ISBN:9787030801883
  • 出 版 社:科學(xué)出版社
  • 中圖法分類:TN402 
  • 頁(yè)碼:255
  • 紙張:
  • 版次:1
  • 開本:16
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讀者對(duì)象:數(shù)字IC設(shè)計(jì)工程師,高等院校微電子、自動(dòng)化、電子信息等相關(guān)專業(yè)師生

本書通過實(shí)際案例介紹高級(jí)HDL綜合與SoC原型設(shè)計(jì),提供有關(guān)SoC和ASIC設(shè)計(jì)性能改進(jìn)的實(shí)用信息。
  本書共16章,內(nèi)容包括SoC設(shè)計(jì)、RTL設(shè)計(jì)指南、RTL設(shè)計(jì)和驗(yàn)證、處理器設(shè)計(jì)和架構(gòu)設(shè)計(jì)、SoC設(shè)計(jì)中的總線和協(xié)議、存儲(chǔ)器和存儲(chǔ)控制器、DSP算法與視頻處理、ASIC和FPGA綜合、靜態(tài)時(shí)序分析、SoC原型設(shè)計(jì)、SoC原型設(shè)計(jì)指南、設(shè)計(jì)集成與SoC綜合、互連線延遲和時(shí)序、SoC原型設(shè)計(jì)和調(diào)試技巧、板級(jí)測(cè)試等。本書源于作者在RTL和SoC設(shè)計(jì)領(lǐng)域多年實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)的總結(jié),旨在為SoC設(shè)計(jì)工程師提供有價(jià)值的參考。


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