偽集成電路是指不符合正品集成電路設計規(guī)范要求的非授權(quán)產(chǎn)品, 主要形式包括回收、重標記、超量生產(chǎn)、不合格/有缺陷、克隆、偽造文件, 以及篡改等, 會大大降低應用系統(tǒng)的安全性和可靠性。本書對偽集成電路相關(guān)問題進行了全面剖析, 并系統(tǒng)闡述并分析了其檢測與防范方法。本書面向偽電子元件領域的初學者和專家, 全面介紹相關(guān)的研究背景、安全威脅、物理和電子測試方法、對抗偽IC的防偽設計方法等相關(guān)研究主題, 可為直接或間接受到偽元件強烈影響的政府、工業(yè)、測試實驗室, 以及學術(shù)界提供必需的路線圖。