本書(shū)是從微電子產(chǎn)業(yè)實(shí)際崗位需求出發(fā)，結(jié)合作者多年企業(yè)工作經(jīng)驗(yàn)及一線教學(xué)經(jīng)驗(yàn)編寫(xiě)而成的。書(shū)中詳細(xì)介紹了目前業(yè)界常見(jiàn)的各類集成電路芯片的測(cè)試原理、測(cè)試方法以及測(cè)試程序的編寫(xiě)，具體包括各類組合/時(shí)序邏輯電路測(cè)試、ADC/DAC芯片測(cè)試、存儲(chǔ)器/微控制器測(cè)試、集成運(yùn)放/電源管理芯片測(cè)試等，同時(shí)還介紹了晶圓探針臺(tái)、測(cè)試機(jī)的使用。

本書(shū)可作為高職院校微電子技術(shù)專業(yè)的核心課程教材，亦可作為全國(guó)職業(yè)院校技能大賽“集成電路開(kāi)發(fā)及應(yīng)用”賽項(xiàng)的備賽訓(xùn)練參考教材。