主要內(nèi)容包括:向量代數(shù),線性方程組,矩陣代數(shù),行列式及特征值與特征向量及實(shí)對稱矩陣與二次型等內(nèi)容;每章開始給出與本章內(nèi)容相關(guān)的歷史發(fā)展進(jìn)程,針對相應(yīng)知識點(diǎn)給出幾何及工程實(shí)際應(yīng)用案例,其中工程實(shí)際應(yīng)用案例主要以不同應(yīng)用領(lǐng)域的具體問題為驅(qū)動(dòng),利用相關(guān)基本知識進(jìn)行建模與分析,提供應(yīng)用線性代數(shù)知識解決實(shí)際問題的思想,并對重點(diǎn)問
本書是編者結(jié)合長期在教學(xué)第一線積累的豐富教學(xué)經(jīng)驗(yàn)編寫而成。全書共11章,內(nèi)容包括:函數(shù)、極限與連續(xù)、導(dǎo)數(shù)與微分、微分中值定理與導(dǎo)數(shù)的應(yīng)用、不定積分、定積分及其應(yīng)用、多元函數(shù)微分學(xué)、二重積分、無窮級數(shù)、微分方程、差分方程。本書按節(jié)配置適量習(xí)題,每章配有總習(xí)題。每章末通過二維碼鏈接知識點(diǎn)總結(jié)和典型問題選講視頻。書末鏈接部分
本書是高等職業(yè)教育分析檢驗(yàn)技術(shù)專業(yè)模塊化系列教材的第2分冊,包括7個(gè)模塊,40個(gè)學(xué)習(xí)單元。本書主要介紹化學(xué)的基本知識和基本操作,包括化學(xué)量與單位、化學(xué)反應(yīng)速率與化學(xué)平衡、物質(zhì)結(jié)構(gòu)與元素周期律、溶液、重要元素及化合物知識、烴和烴的重要衍生物。在每個(gè)模塊的學(xué)習(xí)單元中,都安排了一定數(shù)量的技能操作單元,供學(xué)生練習(xí)操作、掌握操作
本書以項(xiàng)目教學(xué)為主線,將理論教學(xué)和實(shí)訓(xùn)教學(xué)相結(jié)合,以工作過程為導(dǎo)向,構(gòu)成了基于任務(wù)驅(qū)動(dòng)的模塊化課程。全書設(shè)計(jì)了8個(gè)項(xiàng)目,包括紫外-可見分光光度法、紅外吸收光譜法、原子吸收光譜法、氣相色譜法、高效液相色譜法、離子色譜法、電位分析法、原子發(fā)射光譜法及氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用技術(shù)等在實(shí)際中的運(yùn)用。本書是高等職業(yè)院校分析檢驗(yàn)技術(shù)專業(yè)
本書采用先理論方法后實(shí)踐應(yīng)用的方式進(jìn)行撰寫,系統(tǒng)介紹了投影尋蹤基本原理、統(tǒng)計(jì)學(xué)習(xí)方法及其多場景應(yīng)用案例,為多方法耦合提供新思路,為復(fù)雜數(shù)據(jù)挖掘提供新方法,為數(shù)據(jù)科學(xué)問題解決提供新應(yīng)用。全書內(nèi)容包括投影尋蹤研究進(jìn)展綜述、投影尋蹤耦合學(xué)習(xí)原理、投影尋蹤耦合學(xué)習(xí)算法、投影尋蹤聚類耦合學(xué)習(xí)、投影尋蹤回歸耦合學(xué)習(xí)、投影尋蹤函數(shù)型
本教材根據(jù)高等學(xué)校應(yīng)用型人才培養(yǎng)需求,結(jié)合編者多年教學(xué)經(jīng)驗(yàn)的積累編寫而成,體現(xiàn)了近年物理實(shí)驗(yàn)的發(fā)展和創(chuàng)新。全書內(nèi)容按照基礎(chǔ)性、綜合性、設(shè)計(jì)性三個(gè)層次進(jìn)行編排,共五章36個(gè)實(shí)驗(yàn),涵蓋力學(xué)、熱學(xué)、電磁學(xué)、光學(xué)并在每個(gè)實(shí)驗(yàn)后面增設(shè)創(chuàng)新設(shè)計(jì),對課上實(shí)驗(yàn)進(jìn)行補(bǔ)充和擴(kuò)展。教材中部分實(shí)驗(yàn)配有視頻,掃描相應(yīng)實(shí)驗(yàn)后的二維碼可以在線觀看。
《無機(jī)及分析化學(xué)學(xué)習(xí)指導(dǎo)與習(xí)題解析》(第二版)一書是《無機(jī)及分析化學(xué)》(第三版)(王秀彥、馬鳳霞主編)的配套教學(xué)參考書。全書分為14章,每章包括內(nèi)容提要、例題、習(xí)題和習(xí)題參考答案四個(gè)部分,書后附有綜合自測練習(xí)題及參考答案,能夠幫助學(xué)生有效地復(fù)習(xí)教學(xué)內(nèi)容,掌握解題的方法和技巧,提高學(xué)生的學(xué)習(xí)效率。
Fullprof是一種用于晶體結(jié)構(gòu)分析和精修的軟件工具,被廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)和固體物理領(lǐng)域。它能夠擬合實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)和理論模型,從而確定晶體結(jié)構(gòu)的精確參數(shù)。在晶體分析中,F(xiàn)ullprof的應(yīng)用對于研究工作具有重要意義。它可以幫助研究人員確定晶體結(jié)構(gòu)的空間群和晶胞參數(shù),提供準(zhǔn)確的晶胞參數(shù)和晶體結(jié)構(gòu)信息,從而幫助研究人員理解晶體
本書是融合了紙質(zhì)圖書與教學(xué)視頻等數(shù)字資源的新形態(tài)立體教輔用書,主要內(nèi)容涵蓋概率論和數(shù)理統(tǒng)計(jì)兩部分。全書按照章節(jié)順序,系統(tǒng)梳理并歸納了“概率論與數(shù)理統(tǒng)計(jì)”課程的關(guān)鍵知識點(diǎn)和重點(diǎn)內(nèi)容;精心挑選了符合課程要求且具有代表性的典型例題,并納入了近年來的大部分考研真題。編者對這些題目進(jìn)行了詳細(xì)分析和解答,并通過二維碼鏈接【真題精講
晶體結(jié)構(gòu)精修主要基于Rietveld方法,該方法通過在給定的晶體結(jié)構(gòu)模型上,利用最小二乘法對晶體結(jié)構(gòu)信息和峰形參數(shù)進(jìn)行擬合,使計(jì)算圖譜與實(shí)際衍射圖譜盡可能一致。這種方法能夠充分利用全譜衍射數(shù)據(jù),有效解析出晶胞參數(shù)、原子位置等關(guān)鍵信息,對于材料科學(xué)、物理、化學(xué)等領(lǐng)域的研究具有重要意義。