第1章 材料結構測試與數(shù)據(jù)分析 1
1.1 電子顯微鏡技術 1
1.1.1 電子顯微鏡技術簡介1
1.1.2 電子顯微鏡技術的測試原理1
1.1.3 掃描電子顯微鏡 3
1.1.4 透射電子顯微鏡 12
1.1.5 高分辨掃描透射電子顯微鏡 19
1.2 掃描探針顯微鏡技術26
1.2.1 掃描隧道顯微鏡28
1.2.2 原子力顯微鏡35
1.3 比表面積的測試與數(shù)據(jù)分析 41
1.3.1 比表面積的概念和相關影響因素 41
1.3.2 比表面積的測試原理與數(shù)據(jù)分析 41
習題53
參考文獻54

第2章 材料的相結構與化學環(huán)境測試以及數(shù)據(jù)分析 58
2.1 相結構測試與數(shù)據(jù)分析59
2.1.1 相結構影響因素59
2.1.2 X 射線衍射59
2.1.3 選區(qū)電子衍射67
2.1.4 快速傅里葉變換76
2.2 材料的成分和含量測試及數(shù)據(jù)分析82
2.2.1 能量色散X 射線光譜儀83
2.2.2 電子能量損失譜87
2.2.3 能量散射譜95
2.3 綜合化學態(tài)測試與數(shù)據(jù)分析98
2.3.1 X 射線光電子能譜 98
2.3.2 X 射線吸收譜 103
2.3.3 俄歇電子能譜 118
習題 124
參考文獻 126

第3章 材料能帶結構測試與數(shù)據(jù)分析 130
3.1 能帶結構的影響因素及測試技術 130
3.1.1 能帶結構及其影響因素 130
3.1.2 能帶結構的常用測試技術 132
3.2 材料能帶結構的測試與數(shù)據(jù)分析 132
3.2.1 紫外可見漫反射光譜 132
3.2.2 X 射線光電子價帶譜 137
3.2.3 紫外光電子能譜 141
3.2.4 莫特-肖特基曲線 145
3.2.5 利用電負性和能隙計算能帶位置 150
習題 151
參考文獻 152

第4章 晶格振動與相關輸運性能測試以及數(shù)據(jù)分析 154
4.1 晶格振動影響因素及相關輸運性能測試 154
4.2 晶格振動測試與數(shù)據(jù)分析[1-3] 155
4.2.1 紅外光譜 155
4.2.2 拉曼光譜 165
4.3 材料輸運性能測試與數(shù)據(jù)分析 170
4.3.1 影響熱導率與電導率的因素 170
4.3.2 電導率 172
4.3.3 熱導率 177
4.4 材料中載流子壽命測試與數(shù)據(jù)分析 184
4.4.1 載流子壽命的影響因素 184
4.4.2 瞬態(tài)吸收光譜 185
4.4.3 光電導衰減法 192
4.4.4 時間分辨光致發(fā)光譜 202
習題 206
參考文獻 210

第5章 材料中氧缺位與非配位氧的測試以及數(shù)據(jù)分析 213
5.1 氧缺位的定義和形成 213
5.2 氧缺位的檢測 214
5.2.1 X 射線光電子能譜 214
5.2.2 X 射線吸收譜 216
5.2.3 電子順磁譜 219
5.2.4 拉曼譜 220
5.2.5 正電子湮沒壽命譜 222
5.2.6 XRD 精修 225
5.3 表面吸附氧和體內富余氧測試與數(shù)據(jù)分析 235
5.3.1 O2-TDP 和H2-TPR 的測試原理 235
5.3.2 O2-TDP 和H2-TPR 測試數(shù)據(jù)分析 235
習題 237
參考文獻 238

第6章 磁性能測試原理與數(shù)據(jù)分析 241
6.1 直流磁性測量原理與數(shù)據(jù)分析 241
6.1.1 沖擊法 242
6.1.2 熱磁儀 249
6.1.3 磁天平 255
6.1.4 振動樣品磁強計 260
6.2 交流磁性測量原理與數(shù)據(jù)分析 279
6.2.1 伏安法 280
6.2.2 示波法 284
6.2.3 電橋法 290
習題 295
參考文獻 295

第7章 電介質材料性能測試與數(shù)據(jù)分析 298
7.1 介電性能測試原理與數(shù)據(jù)分析 298
7.1.1 介電性能的影響因素與測試原理 299
7.1.2 介電常數(shù)測試數(shù)據(jù)分析 302
7.2 壓電材料的壓電參數(shù)測試原理與數(shù)據(jù)分析 308
7.2.1 壓電參數(shù)的影響因素 309
7.2.2 壓電參數(shù)測量方法和原理 311
7.2.3 壓電常數(shù)測試數(shù)據(jù)分析 311
7.3 鐵電材料性能測試原理與數(shù)據(jù)分析 315
7.3.1 鐵電性能的影響因素 316
7.3.2 電滯回線測試方法和原理 317
7.3.3 電滯回線測試數(shù)據(jù)分析 320
7.4 熱釋電性能測試原理與數(shù)據(jù)分析 325
7.4.1 熱釋電性能的影響因素 325
7.4.2 熱釋電系數(shù)測量方法和原理 326
7.4.3 熱釋電性能測試數(shù)據(jù)分析 327
習題 330
參考文獻 331

第8章 材料變化的熱力學與動力學過程監(jiān)測以及數(shù)據(jù)分析 333
8.1 熱重分析原理與數(shù)據(jù)分析 334
8.1.1 熱重分析原理 334
8.1.2 熱重分析的影響因素 336
8.1.3 測試數(shù)據(jù)分析 338
8.2 差熱分析原理與數(shù)據(jù)分析 341
8.2.1 差熱分析原理 342
8.2.2 影響DTA 測試結果的外在因素 344
8.2.3 DTA 測試數(shù)據(jù)分析 346
8.3 差示掃描量熱測試原理與數(shù)據(jù)分析 350
8.3.1 DSC 分析基本原理 350
8.3.2 DSC 測試數(shù)據(jù)分析 351
8.4 變溫物理量獲得材料相變信息 356
8.4.1 變溫物理量獲得材料相變信息原理 356
8.4.2 變溫物理量獲得材料相變信息數(shù)據(jù)分析 357
習題 360
參考文獻 362