高可靠性航空產(chǎn)品試驗(yàn)技術(shù)
定 價(jià)：48 元
- 作者：李金國 ，等 著
- 出版時(shí)間：2011/1/1
- ISBN：9787118071917
- 出 版 社：國防工業(yè)出版社
- 中圖法分類：V443
- 頁碼：329
- 紙張：膠版紙
- 版次：1
- 開本：32開
《高可靠性航空產(chǎn)品試驗(yàn)技術(shù)》適用于從事武器裝備可靠性與質(zhì)量控制管理方面的技術(shù)人員閱讀，也可供從事裝備環(huán)境與可造性試驗(yàn)與研究的科研人員在進(jìn)行試驗(yàn)設(shè)計(jì)與實(shí)施和科研工作開展中作為參考。
第1章 導(dǎo)論
1.1 概述
1.1.1 可靠性試驗(yàn)發(fā)展概況
1.1.2 高可靠電子裝備可靠性試驗(yàn)技術(shù)新進(jìn)展
1.1.3 可靠性綜合試驗(yàn)——高效費(fèi)比可靠性試驗(yàn)
1.2 裝備采辦研制過程中可靠性試驗(yàn)地位和作用
1.2.1 三類試驗(yàn)與評(píng)價(jià)
1.2.2 試驗(yàn)與評(píng)價(jià)總體計(jì)劃
1.2.3 結(jié)合國情制定可靠性綜合試驗(yàn)要求和計(jì)劃
1.3 可靠性試驗(yàn)任務(wù)、方法和技術(shù)
1.3.1 壽命周期各階段試驗(yàn)任務(wù)、方法和相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)
1.3.2 試驗(yàn)策略
1.3.3 可靠性試驗(yàn)新方法、新技術(shù)、新思路
參考文獻(xiàn)
第2章 可靠性增長試驗(yàn)
2.1 定義
2.1.1 基本概念
2.1.2 可靠性增長途徑
2.2 增長有效性
2.2.1 可靠性增長過程
2.2.2 主要信息來源
2.3 可靠性增長模型
2.3.1 杜安模型
2.3.2 AMSAA模型
2.4 試驗(yàn)適用性
2.5 可靠性增長試驗(yàn)步驟
2.6 可靠性增長估計(jì)
參考文獻(xiàn)
第3章 可靠性增長摸底試驗(yàn)
3.1 概述
3.2 定義及適用范圍
3.3 試驗(yàn)對(duì)象
3.4 試驗(yàn)方案及實(shí)施
3.4.1 統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)方案
3.4.2 試驗(yàn)剖面
3.5 試驗(yàn)技術(shù)特點(diǎn)
3.5.1 試驗(yàn)意義
3.5.2 試驗(yàn)優(yōu)缺點(diǎn)
3.5.3 推廣及應(yīng)用
3.6 試驗(yàn)案例
參考文獻(xiàn)
第4章 環(huán)境應(yīng)力篩選
第5章 加速試驗(yàn)
第6章 高加速壽命試驗(yàn)
第7章 可靠性鑒定試驗(yàn)
第8章 內(nèi)外場可靠性綜合試驗(yàn)
第9章 MTBF保證試驗(yàn)
第1章 導(dǎo)論
1．1 概述
1.1.1 可靠性試驗(yàn)發(fā)展概況 產(chǎn)品可靠性試驗(yàn)從1952年AGREE（美國“電子設(shè)備可靠性咨詢組”）提出，至今已有58年。從1960年美軍發(fā)布國防部手冊《質(zhì)量控制與可靠性手冊》H108，正好50年，從1963年發(fā)布了MIL-STD-781《可靠性試驗(yàn)》，至今也有47年，中間雖然經(jīng)歷了MIL-STD-781B、C、D和MIL-HDBK-781A數(shù)種版本，但所采用的可靠性方法都是假設(shè)產(chǎn)品壽命分布為指數(shù)分布，其試驗(yàn)?zāi)康亩际且砸欢ㄖ眯潘皆u(píng)價(jià)產(chǎn)品可靠性指標(biāo)（平均故障間隔時(shí)間MTBF）是否滿足合同要求，因此也稱為壽命評(píng)估試驗(yàn)。20世紀(jì)80年代，隨著電子產(chǎn)品，尤其是計(jì)算機(jī)的快速發(fā)展，出現(xiàn)了一系列高可靠電子產(chǎn)品。高可靠電子產(chǎn)品對(duì)可靠性試驗(yàn)方法提出了更高的新要求。在推動(dòng)可靠性試驗(yàn)評(píng)估方法改進(jìn)的過程中，美國于1994年初成立了國防試驗(yàn)與評(píng)價(jià)統(tǒng)計(jì)方法研究小組，經(jīng)過四年努力，在1998年發(fā)表了研究報(bào)告《統(tǒng)計(jì)、試驗(yàn)與采辦--新的途徑與方法改進(jìn)》，報(bào)告重點(diǎn)探討了四個(gè)領(lǐng)域的統(tǒng)計(jì)方法：①可靠性、可用性、維修性（RAM）評(píng)估；②建模與仿真的使用；③軟件測試方法；④試驗(yàn)設(shè)計(jì)技術(shù)與應(yīng)用。提出了RAM評(píng)估是統(tǒng)計(jì)密集程度最高的觀點(diǎn)，論述了“在系統(tǒng)研制與采辦中如何增加利用統(tǒng)計(jì)方法的機(jī)會(huì)”，并建議釆用威布爾分析等方法釆替代相對(duì)比較保守的指數(shù)分布假設(shè)方法。在統(tǒng)計(jì)方法上另一個(gè)進(jìn)展就是加快了貝葉斯方法的應(yīng)用步伐。
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