偏振方法可獲得復(fù)雜介質(zhì)光學(xué)性質(zhì)和微觀結(jié)構(gòu)的豐富信息，具有無標(biāo)記、無損傷、跨尺度、多模態(tài)和定量等特點，可用于復(fù)雜樣本定量表征、細(xì)致分類和動態(tài)測量。本書介紹基于彈性散射的偏振光學(xué)測量方法，及其在復(fù)雜樣本測量特別是生物醫(yī)學(xué)診斷等領(lǐng)域的應(yīng)用。主要內(nèi)容包括：生物組織的偏振散射模型，偏振光在散射介質(zhì)中傳播的基本規(guī)律與模擬，光的偏振

本書針對偏振信息測量和偏振信息處理這兩個偏振成像技術(shù)的核心環(huán)節(jié)，基于作者及其研究團(tuán)隊多年的研究成果，介紹了偏振信息測量技術(shù)的原理以及最新的優(yōu)化測量方法，并介紹了偏振信息處理技術(shù)的算法原理及其在偏振圖像去霧、偏振圖像去噪等領(lǐng)域的應(yīng)用和相關(guān)的最新研究進(jìn)展。本書內(nèi)容包含理論、方法、系統(tǒng)、應(yīng)用四個層次，具體內(nèi)容包括：偏振光學(xué)、

本書系統(tǒng)地介紹了光場成像的發(fā)展與現(xiàn)狀，通過對比光場相機(jī)的成像特點闡述了不同的檢校方法；在光場相機(jī)的重聚焦和全聚焦方面論述并對比了不同算法的特點；在論述基于成像一致性的深度檢測算法基礎(chǔ)上，分析并對比了不同主流算法的效率和效果。在光場相機(jī)不斷發(fā)展的基礎(chǔ)上，虛擬現(xiàn)實、智能駕駛、工業(yè)檢測等應(yīng)用也在后一章給出了示例和展望。

掃描近場光學(xué)顯微鏡能夠突破光學(xué)衍射極限實現(xiàn)超分辨成像，因此成為納米光學(xué)測量中*重要的工具之一。本書首先對近場光學(xué)的基本概念和探測原理進(jìn)行概述，然后對近場光學(xué)顯微鏡的分類、工作原理、功能模塊、關(guān)鍵技術(shù)、性能指標(biāo)等進(jìn)行闡述。納米光學(xué)測量在納米光子學(xué)和等離激元光學(xué)研究中有諸多重要的應(yīng)用，包括近場光學(xué)超分辨成像、納米尺度光場振

現(xiàn)代光學(xué)測試技術(shù)研究領(lǐng)域包括光干涉技術(shù)、光衍射技術(shù)、光偏振技術(shù)、光全息技術(shù)、光掃描技術(shù)、光散斑技術(shù)、莫爾技術(shù)、光譜技術(shù)、光纖技術(shù)，等等�！冬F(xiàn)代光學(xué)測試技術(shù)》涉及內(nèi)容除基本光學(xué)測量技術(shù)外，主要以光干涉測試技術(shù)為主，介紹了各種光學(xué)量的測試原理及測試方法。全書共11章。第一、二章系統(tǒng)地介紹了現(xiàn)代光學(xué)測試技術(shù)的基本理論及其發(fā)展

光學(xué)三維測量技術(shù)以現(xiàn)代光學(xué)為基礎(chǔ)，融光電子學(xué)、圖像處理、圖形學(xué)等為一體，是科學(xué)技術(shù)飛速發(fā)展所催生出的現(xiàn)代測量技術(shù)�；�于條紋投影的三維測量方法通過將一定規(guī)則的光柵條紋投影到物體表面，對獲取到的條紋圖像作為三維信息的載體加以分析，由視覺原理得到物體的表面信息�！豆鈻磐队叭�維精密測量》從構(gòu)建條紋投影三維測量系統(tǒng)的角度，對視覺