第1章 常用半導體器件
1.1　晶體二極管
1.1.1　半導體的基本知識
1.1.2　半導體二極管的結(jié)構(gòu)及型號
1.1.3　半導體二極管的特性
1.1.4　二極管主要參數(shù)
1.2　二極管的應(yīng)用電路
1.2.1　常用各類二極管實物及應(yīng)用
1.2.2　限幅電路
1.3　晶體三極管
1.3.1　晶體三極管的結(jié)構(gòu)
1.3.2　晶體三極管的放大原理
1.3.3　晶體三極管的特性
1.3.4　三極管主要參數(shù)
1.4　場效應(yīng)晶體管
1.4.1　結(jié)型場效應(yīng)管
1.4.2　絕緣柵場效應(yīng)管
1.4.3　場效應(yīng)晶體管的使用
1.5　晶閘管
1.5.1　單向晶閘管的工作原理
1.5.2　晶閘管的伏安特性和主要參數(shù)
1.5.3　晶閘管可控整流電路
1.5.4　雙向晶閘管
1.5.5　晶閘管的觸發(fā)電路
1.5.6　晶閘管的保護與應(yīng)用
1.6　實驗 儀器的使用
1.7　實訓 半導體器件的識別和測試
1.8　本章小結(jié)
1.9　習題

第2章　晶體管放大電路
2.1　共發(fā)射極基本放大電路
2.1.1　放大電路的基本知識
2.1.2　共發(fā)射極放大電路的組成及放大作用
2.1.3　放大電路的靜態(tài)分析
2.1.4　放大電路的動態(tài)分析
2.1.5　共發(fā)射極放大電路工作點穩(wěn)定
2.2　共集電極放大電路
2.3　差動放大電路
2.4　功率放大電路
2.4.1　功率放大電路概述
2.4.2　互補對稱電路
2.4.3　集成功率放大電路
2.4.4　多級放大電路
2.5　實訓 單管電壓放大電路組裝與調(diào)試
2.6　實驗 集成功率放大器的應(yīng)用
2.7　本章小結(jié)
2.8　習題

第3章　集成運算放大電路
3.1　集成運算放大電路概述
3.1.1　集成電路的特點
3.1.2　集成電路的分類
3.1.3　集成運算放大電路
3.2　負反饋放大電路
3.2.1　反饋的基本概念
3.2.2　集成運放的反饋類型
3.2.3　負反饋對放大電路性能的影響
3.3　集成電路的基本單元電路
3.3.1　反相比例運算放大電路
3.3.2　同相比例運算放大電路
3.3.3　反相輸入加法電路
3.3.4　減法運算電路
3.3.5　積分電路
3.3.6　微分電路
3.4　集成運算放大電路基本應(yīng)用電路分析
3.4.1　電壓比較器
3.4.2　方波產(chǎn)生電路
3.4.3　集成運放的應(yīng)用
3.5　集成芯片的封裝及識別
3.5.1　集成芯片的封裝及識別
3.5.2　特殊集成運算放大電路
3.5.3　集成運算放大電路的保護與使用
3.6　實驗1 集成運算放大器參數(shù)測試
3.7　實驗2 集成運算放大電路功能測試
3.8　本章小結(jié)
3.9　習題

第4章　直流穩(wěn)壓電源
4.1　單相整流電路
4.1.1　單相半波整流電路
4.1.2　單相橋式整流電路
4.2　濾波電路
4.2.1　電容濾波電路
4.2.2　電感濾波電路
4.3　穩(wěn)壓電路
4.3.1　硅穩(wěn)壓管穩(wěn)壓電路
4.3.2　串聯(lián)型穩(wěn)壓電路
4.4　集成穩(wěn)壓電器
4.4.1　三端固定式集成穩(wěn)壓器
4.4.2　三端可調(diào)式集成穩(wěn)壓器
4.5　開關(guān)穩(wěn)壓電源
4.6　模擬電路識圖
4.6.1　單元電路識圖
4.6.2　整機電路識圖
4.6.3　集成電路應(yīng)用電路識圖
4.6.4　修理識圖
4.6.5　模擬電路識圖的應(yīng)用
4.7　實驗 三端集成穩(wěn)壓器的應(yīng)用
4.8　實訓1 焊接訓練
4.9　實訓2 串聯(lián)型穩(wěn)壓電源的制作
4.10　本章小結(jié)
4.11　習題

第5章　數(shù)字電路的基本知識
5.1　數(shù)制與碼制
5.1.1　模擬信號與數(shù)字信號
5.1.2　數(shù)字電路
5.1.3　數(shù)制
5.1.4　二進制碼
5.2　邏輯代數(shù)的基本運算
5.2.1　與運算
5.2.2　或運算
5.2.3　非運算
5.3　邏輯代數(shù)
5.3.1　邏輯函數(shù)的表示方法
5.3.2　邏輯代數(shù)的基本公式和規(guī)則
5.3.3　邏輯函數(shù)的化簡
5.4　本章小結(jié)
5.5　習題

第6章　邏輯門電路
6.1　分立元件門電路
6.1.1　二極管的開關(guān)特性
6.1.2　三極管的開關(guān)特性
6.1.3　基本邏輯門電路
6.2　集成TTL門電路
6.2.1　TTL與非門的結(jié)構(gòu)及原理
6.2.2　TTL與非門電路的主要外部工作特性
6.2.3　TTL與非門電路的主要參數(shù)
6.2.4　TTL門電路集成芯片介紹
6.3　集成COMS門電路
6.3.1　CMOS非門
6.3.2　其他的CMOS門電路
6.3.3　CMOS邏輯門電路的系列
6.3.4　集成門電路輸入、輸出的處理
6.4　實訓 TTL與非門參數(shù)測試
6.5　實驗 門電路邏輯功能及測試
6.6　本章小結(jié)
6.7　習題

第7章　組合邏輯電路
7.1　組合邏輯電路的分析
7.1.1　組合邏輯電路功能的描述
7.1.2　組合邏輯電路的分析方法
7.2　組合邏輯電路的設(shè)計方法
7.3　組合邏輯電路的競爭冒險
7.3.1　產(chǎn)生競爭冒險的原因
7.3.2　消除競爭冒險的方法
7.4　編碼器與譯碼器
7.4.1　編碼器
7.4.2　譯碼器
7.5　實驗 組合邏輯電路功能測試
7.6　實訓1 三變量組合邏輯電路設(shè)計
7.7　實訓2 譯碼顯示電路設(shè)計
7.8　本章小結(jié)
7.9　習題

第8章　集成觸發(fā)器
8.1　基本RS觸發(fā)器
8.1.1　電路結(jié)構(gòu)和工作原理
8.1.2　觸發(fā)器的功能描述方法
8.2　同步RS觸發(fā)器
8.3　主從JK觸發(fā)器
8.4　邊沿D觸發(fā)器
8.5　觸發(fā)器的應(yīng)用
8.6　實驗 集成觸發(fā)器邏輯功能測試
8.7　本章小結(jié)
8.8　習題

第9章　時序邏輯電路
9.1　概述
9.2　計數(shù)器
9.2.1　二進制計數(shù)器
9.2.2　集成二進制計數(shù)器
9.3　寄存器
9.3.1　移位寄存器
9.3.2　集成移位寄存器
9.4　實驗1 寄存器的功能測試
9.5　實驗2 計數(shù)器的功能測試
9.6　綜合實訓 搶答器的分析與設(shè)計
9.7　數(shù)字電路原理圖的識圖
9.8　本章小結(jié)
9.9　習題

第10章　555定時器
10.1　555定時器電路及功能
10.1.1　555定時器的電路結(jié)構(gòu)與工作原理
10.1.2　555定時器的功能
10.2　施密特觸發(fā)器
10.3　單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器
10.4　多諧振蕩器
10.5　555定時器的應(yīng)用
10.6　實訓 555定時器的設(shè)計應(yīng)用
10.7　本章小結(jié)
10.8　習題

第11章　D/A與A/D轉(zhuǎn)換器
11.1　D/A轉(zhuǎn)換器
11.1.1　DAC的基本原理
11.1.2　變換網(wǎng)絡(luò)
11.1.3　模擬開關(guān)
11.1.4　D/A轉(zhuǎn)換器的主要技術(shù)指標
11.1.5　集成D/A轉(zhuǎn)換器
11.2　A/D轉(zhuǎn)換器
11.2.1　采樣和保持
11.2.2　量化和編碼
11.2.3　A/D轉(zhuǎn)換器
11.2.4　A/D轉(zhuǎn)換器的主要技術(shù)指標
11.2.5　集成A/D轉(zhuǎn)換器
11.3　本章小結(jié)
11.4　習題

參考文獻