本書以光電測試方法為主線，較全面地介紹了在光電測試技術中所涉及的基本理論和概念、主要測試原理、測試方法、儀器組成和主要技術特點。本書除緒論外共8章，緒論介紹了光電測試技術的發(fā)展歷史、概況、特點，以及在光電測試技術中的數(shù)據(jù)處理方法；第1章介紹了光電測試技術中的光輻射體和光輻射探測器的基本性能和特點；第2章介紹了光學系統(tǒng)性能的測試技術；第3章介紹了光學元件特性的測試技術；第4章介紹了色度學的基本原理和色度測試技術；第5～7章介紹了激光測試技術，包括激光準直、測速、測距以及干涉、衍射測試技術；第8章介紹了技術成熟應用廣泛的莫爾條紋、圖像測試、光纖傳感、層析探測、共焦掃描顯微技術及納米技術中的光電測試技術等。上述光電測試技術廣泛地應用于工業(yè)、農(nóng)業(yè)、文教、衛(wèi)生、國防、科研和家庭生活等各個領域。