目錄
前言
第1章 緒論 1
1.1 概述 1
1.2 幾何要素與幾何精度設(shè)計(jì) 1
1.2.1 幾何要素 1
1.2.2 幾何誤差與幾何精度 3
1.2.3 幾何精度設(shè)計(jì)的基本原則 4
1.2.4 幾何精度設(shè)計(jì)的方法 6
1.3 產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范GPS 6
1.3.1 產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范GPS的概念 6
1.3.2 GPS標(biāo)準(zhǔn)體系的層次結(jié)構(gòu) 7
1.3.3 GPS通用標(biāo)準(zhǔn)矩陣 8
1.4 優(yōu)先數(shù)和優(yōu)先數(shù)系 9
思考題與習(xí)題 11
第2章 極限與配合 12
2.1 概述 12
2.2 術(shù)語(yǔ)和定義 12
2.2.1 軸和孔 12
2.2.2 尺寸 13
2.2.3 偏差 14
2.2.4 尺寸公差 14
2.2.5 公差帶 14
2.2.6 極限制 15
2.2.7 間隙和過(guò)盈 15
2.2.8 配合 16
2.2.9 配合公差 17
2.2.10 配合制 18
2.3 標(biāo)準(zhǔn)公差系列和基本偏差系列 19
2.3.1 標(biāo)準(zhǔn)公差系列 20
2.3.2 基本偏差系列 21
2.4 公差帶和配合 29
2.4.1 公差帶及其選用 29
2.4.2 配合及其選用 31
2.5 一般公差 32
2.5.1 一般公差的概念 32
2.5.2 一般公差等級(jí)及極限偏差 33
2.5.3 一般公差的應(yīng)用 34
2.6 公差帶和配合的選用 34
2.6.1 配合制的選用 34
2.6.2 公差等級(jí)的選用 36
2.6.3 配合種類(lèi)的選用 39
思考題與習(xí)題 45
第3章 幾何公差 46
3.1 概述 46
3.2 幾何公差基礎(chǔ) 46
3.2.1 幾何誤差對(duì)機(jī)器功用的影響 46
3.2.2 有關(guān)術(shù)語(yǔ)和定義 46
3.2.3 幾何公差的分類(lèi)、公差項(xiàng)目、符號(hào)及附加符號(hào) 48
3.2.4 幾何公差與幾何公差帶 49
3.2.5 幾何誤差與最小條件 51
3.2.6 基準(zhǔn) 52
3.3 幾何公差標(biāo)注的基本原則、基本要求和方法 54
3.3.1 公差框格 54
3.3.2 被測(cè)要素 55
3.3.3 基準(zhǔn)要素 57
3.4 幾何公差的定義、標(biāo)注與解釋 58
3.4.1 形狀公差 58
3.4.2 方向公差 62
3.4.3 位置公差 70
3.4.4 跳動(dòng)公差 75
3.5 公差原則 79
3.5.1 公差原則及其分類(lèi) 79
3.5.2 術(shù)語(yǔ)和定義 80
3.5.3 獨(dú)立原則 82
3.5.4 包容要求 84
3.5.5 最大實(shí)體要求 86
3.6 幾何公差的選用 95
3.6.1 幾何公差項(xiàng)目的選用 95
3.6.2 幾何公差值的選用 96
3.6.3 基準(zhǔn)的選用 99
3.6.4 公差原則的選用 100
思考題與習(xí)題 100
第4章 表面結(jié)構(gòu) 103
4.1 概述 103
4.2 表面結(jié)構(gòu)及其組成 103
4.2.1 表面結(jié)構(gòu)的定義 103
4.2.2 表面缺陷 103
4.2.3 表面輪廓 105
4.2.4 表面粗糙度 106
4.3 表面粗糙度的術(shù)語(yǔ)和定義 107
4.4 表面粗糙度參數(shù) 108
4.5 表面粗糙度的表示法 111
4.5.1 標(biāo)注表面粗糙度的圖形符號(hào) 111
4.5.2 表面粗糙度完整圖形符號(hào)的組成 112
4.5.3 表面粗糙度要求在圖樣上的標(biāo)注 113
4.6 表面粗糙度的選用 116
4.6.1 表面粗糙度參數(shù)的選用 116
4.6.2 表面粗糙度參數(shù)值的選用 117
思考題與習(xí)題 119
第5章 技術(shù)測(cè)量基礎(chǔ) 120
5.1 概述 120
5.1.1 測(cè)量 120
5.1.2 測(cè)量的四要素 120
5.1.3 幾何量測(cè)量技術(shù)的發(fā)展歷史 121
5.2 測(cè)量單位 122
5.2.1 長(zhǎng)度基準(zhǔn) 122
5.2.2 尺寸傳遞系統(tǒng) 123
5.2.3 角度基準(zhǔn)與角度量值傳遞系統(tǒng) 123
5.2.4 量塊 124
5.3 測(cè)量方法 126
5.3.1 測(cè)量方法的分類(lèi) 126
5.3.2 測(cè)量器具及其分類(lèi) 130
5.3.3 測(cè)量器具的特性指標(biāo) 131
5.4 測(cè)量誤差 132
5.4.1 測(cè)量誤差及其表示 132
5.4.2 測(cè)量誤差的來(lái)源 133
5.4.3 測(cè)量誤差的分類(lèi) 134
5.4.4 隨機(jī)誤差的處理 136
5.4.5 系統(tǒng)誤差的處理 141
5.4.6 粗大誤差的處理 143
5.4.7 測(cè)量誤差的合成 143
思考題與習(xí)題 146
第6章 基本幾何量的檢測(cè) 148
6.1 概述 148
6.2 線性尺寸的檢測(cè) 148
6.2.1 用通用計(jì)量器具測(cè)量 148
6.2.2 用光滑極限量規(guī)檢驗(yàn) 152
6.3 幾何誤差的檢測(cè) 158
6.3.1 幾何誤差的檢測(cè)原則 158
6.3.2 直線度誤差的檢測(cè)與評(píng)定 160
6.3.3 平面度誤差的檢測(cè)與評(píng)定 163
6.4 表面粗糙度的檢測(cè) 166
思考題與習(xí)題 169
第7章 滾動(dòng)軸承的公差與配合 170
7.1 概述 170
7.2 滾動(dòng)軸承外圈外徑、內(nèi)圈內(nèi)徑的公差帶 171
7.2.1 滾動(dòng)軸承的公差 171
7.2.2 滾動(dòng)軸承公差帶的特點(diǎn) 172
7.3 軸頸和外殼孔的公差帶 173
7.4 滾動(dòng)軸承配合的選用 174
4.1 公差等級(jí)的選擇 175
4.2 配合的選擇 175
4.3 幾何公差和表面粗糙度的選擇 179
思考題與習(xí)題 181
第8章 螺紋的公差與配合 182
8.1 概述 182
8.1.1 螺紋的種類(lèi)和使用要求 182
8.1.2 普通螺紋的基本牙型和主要幾何參數(shù) 182
8.2 普通螺紋的公差與配合 184
8.2.1 普通螺紋的公差等級(jí) 184
8.2.2 普通螺紋的基本偏差 186
8.2.3 旋合長(zhǎng)度 187
8.2.4 極限偏差 188
8.2.5 普通螺紋的公差帶及其選用 188
8.2.6 普通螺紋在圖樣上的標(biāo)注 189
8.3 絲杠的公差與配合 191
8.3.1 術(shù)語(yǔ)及定義 191
8.3.2 精度等級(jí) 193
8.3.3 精度項(xiàng)目檢測(cè) 193
8.3.4 產(chǎn)品的標(biāo)識(shí) 199
8.4 螺紋檢測(cè) 199
8.4.1 綜合檢測(cè) 199
8.4.2 單項(xiàng)檢測(cè) 200
思考題與習(xí)題 203
第9章 漸開(kāi)線圓柱齒輪精度 204
9.1 概述 204
9.1.1 齒輪傳動(dòng)的使用要求 204
9.1.2 齒輪加下誤差的來(lái)源 205
9.2 單個(gè)齒輪精度的術(shù)語(yǔ)和定義 207
9.2.1 齒距偏差 208
9.2.2 齒廓偏差 208
9.2.3 螺旋線偏差 210
9.2.4 切向綜合偏差 211
9.2.5 徑向綜合偏差 211
9.2.6 徑向跳動(dòng) 212
9.3 齒輪副精度的術(shù)語(yǔ)和定義 212
9.3.1 齒輪副的中心距偏差 212
9.3.2 齒輪副軸線的平行度偏差 213
9.3.3 齒輪副的接觸斑點(diǎn) 213
9.3.4 齒輪副的側(cè)隙 214
9.4 圓柱齒輪精度制 216
9.4.1 齒輪精度等級(jí)及其選擇 216
9.4.2 齒輪檢驗(yàn)項(xiàng)目的選擇及公差值的確定 217
9.4.3 齒輪副側(cè)隙 225
9.4.4 齒坯精度 226
9.4.5 齒輪精度的標(biāo)注 230
9.4.6 齒輪精度設(shè)計(jì) 230
9.5 齒輪測(cè)量 232
9.5.1 單個(gè)齒距精度的檢測(cè) 233
9.5.2 齒廓偏差的檢測(cè) 235
9.5.3 螺旋線偏差的檢測(cè) 235
9.5.4 切向綜合總偏差的測(cè)量 236
9.5.5 徑向綜合偏差的測(cè)量 237
9.5.6 徑向跳動(dòng)的測(cè)量 238
9.5.7 齒厚偏差的測(cè)量 238
思考題與習(xí)題 239
參考文獻(xiàn) 240