譚劍波、尤路、黃新、張卿、孫大成等編著的這本《邊界掃描測試技術》主要從邊界掃描技術的產生、原理以及應用三個方面，對邊界掃描技術作了較為詳細的介紹。包括用于數字電路測試的標準IEEE 1149.1、混合電路測試標準IEEE 1149.4、系統(tǒng)級測試標準IEEE 1149.5、高速數字網絡邊界掃描測試標準IEEE 1149.6，邊界掃描技術在芯片設計中的應用，網絡型邊界掃描測試控制器的設計以及相關可測試性及工程應用設計實例等內容。
　　《邊界掃描測試技術》可作為高等院校電子信息、通信、測試測控、自動化等電子類學科專業(yè)高年級學生或研究生的課程教材使用，也可作為電子類相關領域工程技術人員的參考資料。