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粉末衍射法測定晶體結(jié)構(gòu)(第二版)(上下冊)

粉末衍射法測定晶體結(jié)構(gòu)(第二版)(上下冊)

定  價:98 元

叢書名:現(xiàn)代物理基礎(chǔ)叢書

        

  • 作者:梁敬魁編著
  • 出版時間:2011/3/1
  • ISBN:9787030304735
  • 出 版 社:科學(xué)出版社
  • 中圖法分類:O723 
  • 頁碼:660
  • 紙張:膠版紙
  • 版次:2
  • 開本:16開
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  晶體結(jié)構(gòu)是了解固體材料性質(zhì)的重要基礎(chǔ),X射線粉末衍射法是提供有關(guān)晶體結(jié)構(gòu)信息的主要方法之一!斗勰┭苌浞y定晶體結(jié)構(gòu)(第2版)(套裝上下冊)》由梁敬魁編著,《粉末衍射法測定晶體結(jié)構(gòu)(第2版)(套裝上下冊)》除了扼要介紹X射線衍射的晶體學(xué)基礎(chǔ)、化合物結(jié)構(gòu)的晶體化學(xué)基本概念、X射線粉末衍射的實(shí)驗(yàn)方法,以及衍射線的位置和峰形及強(qiáng)度的測定外,還比較系統(tǒng)全面地論述了粉末衍射圖譜的指標(biāo)化、點(diǎn)陣常數(shù)的精確測量、粉末衍射測定新型化合物晶體結(jié)構(gòu)的各種方法及里特沃爾德(Rietveld)法全譜擬合修正晶體結(jié)構(gòu)、固溶體類型與超結(jié)構(gòu)的測定,以及鍵價理論在離子晶體結(jié)構(gòu)分析中的應(yīng)用。重點(diǎn)闡述粉末衍射結(jié)構(gòu)分析從頭計算方法。
  《粉末衍射法測定晶體結(jié)構(gòu)(第2版)(套裝上下冊)》可供從事x射線晶體學(xué)和材料科學(xué)的科技工作者,以及高等院校有關(guān)專業(yè)的師生參考。


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