在對失效分析的歷史發(fā)展、基本內(nèi)涵以及失效分析的基本理論和方法進(jìn)行系統(tǒng)闡述的基礎(chǔ)上,全面闡明了機(jī)電產(chǎn)品的主要失效模式和機(jī)理,主要涉及了裂紋、斷口、痕跡分析技術(shù)和失效評估、斷裂、腐蝕、磨損、老化的失效分析,特別是首次在國內(nèi)外較為系統(tǒng)地重點介紹了失效分析作為相對獨立學(xué)科的形成和發(fā)展；電子產(chǎn)品的失效模式、機(jī)理和原因；斷口的定量分析和反推技術(shù)以及失效致因理論和預(yù)防�！�