本書(shū)是配合“模擬電子技術(shù)”和“數(shù)字電子技術(shù)”課程教學(xué)的實(shí)驗(yàn)教材。實(shí)驗(yàn)是模擬電子技術(shù)和數(shù)字電子技術(shù)課程教學(xué)過(guò)程中十分重要的實(shí)踐性教學(xué)環(huán)節(jié), 是理論聯(lián)系實(shí)際的重要環(huán)節(jié)。通過(guò)實(shí)驗(yàn), 可進(jìn)一步鞏固和加深理解所學(xué)的理論知識(shí), 并提高綜合運(yùn)用這些知識(shí)的能力; 培養(yǎng)積極主動(dòng)的思考能力、動(dòng)手能力、觀察能力、學(xué)習(xí)能力; 培養(yǎng)自主創(chuàng)新意識(shí)以及團(tuán)隊(duì)合作精神。通過(guò)具體的實(shí)驗(yàn)操作, 還能夠正確熟練地使用常用電子儀器設(shè)備; 掌握電子電路常規(guī)的實(shí)驗(yàn)方法、設(shè)計(jì)方法和基本的測(cè)試技能; 正確地分析和處理實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)、實(shí)驗(yàn)現(xiàn)象、實(shí)驗(yàn)誤差; 初步具備分析、檢查和排除電子線(xiàn)路故障的能力。 本書(shū)依據(jù)“模擬電子技術(shù)”和“數(shù)字電子技術(shù)”課程教學(xué)大綱的基本要求, 基于電子系列實(shí)驗(yàn)平臺(tái)“DZX-3型電子學(xué)綜合實(shí)驗(yàn)裝置”編寫(xiě)而成。為滿(mǎn)足普通工科院校電子、電氣類(lèi)專(zhuān)業(yè)及相關(guān)專(zhuān)業(yè)學(xué)生在電子技術(shù)實(shí)驗(yàn)方面不同層次的需求, 同時(shí)本著實(shí)用、夠用, 既有基礎(chǔ)性又有延伸性的原則, 本書(shū)實(shí)驗(yàn)內(nèi)容主要分為基礎(chǔ)驗(yàn)證性實(shí)驗(yàn)和綜合設(shè)計(jì)性實(shí)驗(yàn)。其中, 基礎(chǔ)驗(yàn)證性實(shí)驗(yàn)供基本教學(xué)實(shí)驗(yàn)參考, 可以根據(jù)課程大綱要求選擇合適的實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目及合適的實(shí)驗(yàn)內(nèi)容。綜合設(shè)計(jì)性實(shí)驗(yàn)供具備綜合開(kāi)放性實(shí)驗(yàn)條件的院校及學(xué)生參考。 本書(shū)編者為多年來(lái)一直從事電子技術(shù)系列課程理論教學(xué)及實(shí)驗(yàn)教學(xué)的老師, 其中, 江姝妍擔(dān)任本書(shū)主編, 路明禮擔(dān)任副主編, 李婧、張新娜參編。全書(shū)內(nèi)容由江姝妍進(jìn)行統(tǒng)稿定稿、校對(duì)修正。在本書(shū)完稿過(guò)程中, 模擬電路部分實(shí)驗(yàn)由江姝妍和李婧進(jìn)行了實(shí)操驗(yàn)證, 數(shù)字電路部分實(shí)驗(yàn)由路明禮和張新娜進(jìn)行了實(shí)操驗(yàn)證。 全書(shū)分為三篇及附錄, 具體執(zhí)筆分配如下: 第一篇為模擬電路基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn), 包括模擬電子技術(shù)課程教學(xué)大綱要求的十個(gè)驗(yàn)證性實(shí)驗(yàn), 其中, 實(shí)驗(yàn)一由江姝妍執(zhí)筆, 實(shí)驗(yàn)二到實(shí)驗(yàn)十由路明禮執(zhí)筆。 第二篇為數(shù)字電路基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn), 包括數(shù)字電子技術(shù)課程教學(xué)大綱要求的十個(gè)驗(yàn)證性實(shí)驗(yàn), 由江姝妍執(zhí)筆。 第三篇為包含模擬電路和數(shù)字電路的電子電路綜合實(shí)驗(yàn), 包括十個(gè)電子技術(shù)綜合性和設(shè)計(jì)性實(shí)驗(yàn), 其中, 實(shí)驗(yàn)一到實(shí)驗(yàn)九由李婧執(zhí)筆, 實(shí)驗(yàn)十由張新娜執(zhí)筆。 附錄部分主要包括電子實(shí)驗(yàn)裝置介紹、數(shù)字示波器簡(jiǎn)介、常用電子元器件識(shí)別與檢測(cè)等內(nèi)容, 由張新娜執(zhí)筆。 在本書(shū)的編寫(xiě)過(guò)程中, 編者參閱了多種相關(guān)教材及實(shí)驗(yàn)指導(dǎo)等資料, 在此特向所參考資料的原作者表示衷心的感謝。 在本書(shū)的內(nèi)容組織和編寫(xiě)過(guò)程中, 編者多次進(jìn)行了實(shí)驗(yàn)內(nèi)容及實(shí)驗(yàn)線(xiàn)路的討論與修改, 但由于編者水平有限, 書(shū)中難免仍存在不妥和疏漏之處, 敬請(qǐng)廣大讀者批評(píng)指正。 編 者 2023年5月