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半導體材料及器件輻射缺陷與表征方法 
定 價：128 元 叢書名：國家出版基金項目 國家出版基金資助項目 材料與器件輻射效應及加固技術研究著作
9 7 7 8 0 7 5 5 4 7 4 6 7 讀者對象:本書可供從事航天技術研究的專業(yè)人員和相關應用領域的科技人員參考，也可作為高等院校航空宇航科學與技術、空間科學、材料物理和集成電路學科的研究生教材
全書共分為4章，系統(tǒng)闡述了輻射誘導半導體缺陷的相關理論、數(shù)值模擬方法、表征技術及應用�？臻g輻射誘導缺陷是導致電子元器件性能退化的重要原因，然而輻射誘導缺陷的形成、演化和性質與半導體材料本身物理屬性、器件類型及結構密切相關。
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