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嵌入式實(shí)時(shí)系統(tǒng)調(diào)試 讀者對(duì)象:本書適合電氣工程、計(jì)算機(jī)科學(xué)或計(jì)算機(jī)工程專業(yè)的大學(xué)生, 以及有經(jīng)驗(yàn)的工程師閱讀 通過對(duì)真實(shí)案例的學(xué)習(xí)和對(duì)專業(yè)工具(例如邏輯分析儀、JTAG調(diào)試器和性能分析儀)的廣泛研究,本書提出了調(diào)試實(shí)時(shí)系統(tǒng)的實(shí)踐方法。它遵循嵌入式系統(tǒng)的傳統(tǒng)設(shè)計(jì)生命周期原理,指出了哪里會(huì)導(dǎo)致錯(cuò)誤,進(jìn)一步闡述如何在將來的設(shè)計(jì)中發(fā)現(xiàn)和避免錯(cuò)誤。它還研究了應(yīng)用程序性能監(jiān)控、單個(gè)程序運(yùn)行跟蹤記錄以及多任務(wù)OS中單獨(dú)運(yùn)行應(yīng)用的其它的調(diào)試和控制方法。
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