晶體測(cè)量 (或稱晶體形態(tài)測(cè)量, 也稱測(cè)角法) 是18世紀(jì)中發(fā)展起來的一種古老科學(xué)方法。傳統(tǒng)的晶體測(cè)量方法是結(jié)晶學(xué)發(fā)展的奠基石, 在結(jié)晶學(xué)發(fā)展歷史中發(fā)揮了不可磨滅的作用。本教材將傳承傳統(tǒng)晶體測(cè)量方法中的基本原理, 特別是數(shù)學(xué)原理; 并在此基礎(chǔ)上, 將傳統(tǒng)晶體測(cè)量方法進(jìn)行改進(jìn)。本書還介紹了一種全新的確定晶體內(nèi)部界面 (雙晶接合面、出溶片晶與主晶界面等) 的晶面符號(hào)的方法----晶帶相交法。本教材能為傳承古老科學(xué)方法、保護(hù)古老科學(xué)方法中的精髓、發(fā)展古老科學(xué)方法與現(xiàn)代科學(xué)方法的聯(lián)系等方面發(fā)揮積極作用。