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互換性與技術(shù)測(cè)量

互換性與技術(shù)測(cè)量

定  價(jià):42 元

        

  • 作者:主編孫慶唐
  • 出版時(shí)間:2022/6/1
  • ISBN:9787302611431
  • 出 版 社:清華大學(xué)出版社
  • 中圖法分類:TG801 
  • 頁(yè)碼:213
  • 紙張:
  • 版次:1
  • 開(kāi)本:26cm
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本書主要包括概論、尺寸極限與配合、配合公差的應(yīng)用、幾何公差及檢測(cè)、公差原則及幾何公差選擇、表面粗糙度、光滑極限量規(guī)、尺寸鏈、公稱尺寸常用測(cè)量工具等內(nèi)容, 集理論教學(xué)、實(shí)操實(shí)訓(xùn)為一體, 采用最新國(guó)家標(biāo)準(zhǔn), 文字?jǐn)⑹鼍珶? 內(nèi)容圖文并茂、通俗易懂。
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