定 價(jià):35 元
叢書(shū)名:“十三五”國(guó)家重點(diǎn)出版物出版規(guī)劃項(xiàng)目 卓越工程能力培養(yǎng)與工程教育專業(yè)認(rèn)證系列規(guī)劃教材(電氣工程及其自動(dòng)化、自動(dòng)化專業(yè))
- 作者:吳在軍
- 出版時(shí)間:2022/6/1
- ISBN:9787111700777
- 出 版 社:機(jī)械工業(yè)出版社
- 中圖法分類:TM93
- 頁(yè)碼:136
- 紙張:
- 版次:
- 開(kāi)本:16
本書(shū)著眼于電氣測(cè)試系統(tǒng)的關(guān)鍵共性技術(shù),以“信號(hào)感知(傳感)、信號(hào)傳輸(通信)、信號(hào)處理”為主線,系統(tǒng)介紹了先進(jìn)電壓電流傳感技術(shù)、微弱信號(hào)檢測(cè)、電氣測(cè)試系統(tǒng)的通信技術(shù)、測(cè)量誤差與數(shù)據(jù)處理、測(cè)試系統(tǒng)抗干擾技術(shù)等內(nèi)容。通過(guò)對(duì)本書(shū)的學(xué)習(xí),讀者可對(duì)電氣測(cè)試技術(shù)的綜合分析、系統(tǒng)設(shè)計(jì)和應(yīng)用有一個(gè)較為系統(tǒng)而全面的了解,掌握電氣測(cè)試的基本理論和關(guān)鍵技術(shù),為今后從事電氣測(cè)試技術(shù)的研究、開(kāi)發(fā)和應(yīng)用工作奠定基礎(chǔ)。
本書(shū)可作為高等學(xué)校電氣類、自動(dòng)化類專業(yè)研究生和高年級(jí)本科生“電氣測(cè)試技術(shù)”相關(guān)課程的教材,也可作為從事電氣測(cè)試領(lǐng)域技術(shù)研究與開(kāi)發(fā)人員的參考書(shū)。
序
前言
第1章緒論1
1.1測(cè)試技術(shù)概述1
1.1.1測(cè)量與測(cè)量方法1
1.1.2測(cè)試與電氣測(cè)試2
1.2測(cè)試系統(tǒng)2
1.2.1測(cè)試系統(tǒng)的構(gòu)成2
1.2.2測(cè)試系統(tǒng)的分析3
1.2.3測(cè)試系統(tǒng)的基本指標(biāo)3
1.2.4測(cè)試系統(tǒng)的靜態(tài)特性4
1.2.5測(cè)試系統(tǒng)的動(dòng)態(tài)特性5
1.3信號(hào)不失真測(cè)試5
第2章先進(jìn)電壓電流傳感技術(shù)7
2.1引言7
2.2電子式電壓互感器8
2.2.1電容式電壓互感器9
2.2.2電阻式電壓互感器9
2.3光學(xué)電壓互感器10
2.3.1基于Pockels電光效應(yīng)的
OVT10
2.3.2基于逆壓電效應(yīng)的OVT11
2.4電子式電流互感器12
2.4.1電子式電流互感器工作原理12
2.4.2電子式電流互感器工作特性14
2.5光學(xué)電流互感器14
2.5.1光學(xué)電流互感器工作原理14
2.5.2光學(xué)電流互感器光路結(jié)構(gòu)16
第3章微弱信號(hào)檢測(cè)18
3.1基本概念18
3.1.1微弱信號(hào)18
3.1.2干擾和噪聲18
3.1.3信噪比與信噪改善比18
3.1.4微弱信號(hào)檢測(cè)19
3.2頻域微弱信號(hào)檢測(cè)——鎖定放大19
3.2.1鎖定放大器19
3.2.2鎖定放大器原理21
3.2.3鎖定放大器實(shí)現(xiàn)23
3.3時(shí)域微弱信號(hào)檢測(cè)——取樣積分
與數(shù)字式平均24
3.3.1取樣積分原理24
3.3.2單點(diǎn)式取樣積分25
3.3.3多點(diǎn)式數(shù)字平均29
3.3.4單點(diǎn)式取樣積分與多點(diǎn)式數(shù)字
平均的比較33
第4章電氣測(cè)試系統(tǒng)的通信技術(shù)34
4.1電氣測(cè)試系統(tǒng)通信網(wǎng)絡(luò)性能要求34
4.1.1實(shí)時(shí)性34
4.1.2可靠性38
4.1.3安全性40
4.2實(shí)時(shí)以太網(wǎng)技術(shù)44
4.2.1現(xiàn)場(chǎng)總線與實(shí)時(shí)以太網(wǎng)44
4.2.2實(shí)時(shí)以太網(wǎng)標(biāo)準(zhǔn)協(xié)議45
4.3無(wú)線通信技術(shù)46
4.3.1無(wú)線通信技術(shù)概述46
4.3.2ZigBee47
4.3.35G通信技術(shù)50
第5章測(cè)量誤差與數(shù)據(jù)處理54
5.1測(cè)量誤差及其分類54
5.2隨機(jī)誤差與數(shù)據(jù)處理55
5.2.1隨機(jī)誤差產(chǎn)生的原因55
5.2.2隨機(jī)誤差的統(tǒng)計(jì)特性和
概率分布55
5.2.3測(cè)量值的均值與殘余誤差57
5.2.4標(biāo)準(zhǔn)差57
5.2.5極限誤差59
5.3系統(tǒng)誤差與數(shù)據(jù)處理59
5.3.1系統(tǒng)誤差的分類59
5.3.2系統(tǒng)誤差的發(fā)現(xiàn)60
5.3.3消除系統(tǒng)誤差的方法63
5.4粗大誤差與數(shù)據(jù)處理65
5.4.1粗大誤差產(chǎn)生的原因65
5.4.2判別粗大誤差的準(zhǔn)則65
5.4.3防止與消除粗大誤差的方法69
5.5函數(shù)誤差70
5.5.1函數(shù)系統(tǒng)誤差計(jì)算70
5.5.2函數(shù)隨機(jī)誤差計(jì)算70
5.5.3誤差間的相關(guān)系數(shù)71
5.6誤差的合成71
5.6.1隨機(jī)誤差的合成72
5.6.2系統(tǒng)誤差的合成73
5.6.3系統(tǒng)誤差和隨機(jī)誤差的合成74
5.7誤差的分配75
5.8微小誤差取舍原則77
5.9最佳測(cè)量方案的確定77
第6章測(cè)試系統(tǒng)抗干擾技術(shù)79
6.1信號(hào)與干擾79
6.1.1信號(hào)與干擾的定義79
6.1.2信號(hào)與干擾的度量79
6.2干擾的產(chǎn)生80
6.2.1干擾的來(lái)源80
6.2.2測(cè)試系統(tǒng)內(nèi)部的固有噪聲81
6.3干擾的傳播82
6.3.1電場(chǎng)耦合82
6.3.2磁場(chǎng)耦合83
6.3.3公共阻抗耦合83
6.4抗干擾設(shè)計(jì)85
6.4.1抑制干擾的基本措施85
6.4.2硬件抗干擾設(shè)計(jì)85
6.4.3軟件抗干擾設(shè)計(jì)90
6.5共模干擾與差模干擾91
6.5.1共模干擾91
6.5.2差模干擾93
6.6長(zhǎng)線傳輸干擾及其抑制94
第7章測(cè)試系統(tǒng)的可靠性96
7.1可靠性的定性96
7.2測(cè)試系統(tǒng)可靠性特征量96
7.3測(cè)試系統(tǒng)可靠性模型97
7.4測(cè)試系統(tǒng)可靠性預(yù)測(cè)98
7.4.1串聯(lián)系統(tǒng)的可靠性98
7.4.2并聯(lián)系統(tǒng)的可靠性99
7.4.3混聯(lián)系統(tǒng)的可靠性99
7.5測(cè)試系統(tǒng)可靠性設(shè)計(jì)100
7.5.1可靠性設(shè)計(jì)基本原則100
7.5.2提高系統(tǒng)可靠性措施101
第8章測(cè)試系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)102
8.1引言102
8.2便攜式局部放電測(cè)試儀
硬件設(shè)計(jì)102
8.2.1總體結(jié)構(gòu)102
8.2.2傳感器選型與設(shè)計(jì)104
8.2.3信號(hào)調(diào)理與A/D轉(zhuǎn)換
電路設(shè)計(jì)111
8.2.4電源管理模塊117
8.2.5音頻輸出電路120
8.3便攜式局部放電測(cè)試儀
軟件設(shè)計(jì)121
8.3.1FPGA邏輯電路設(shè)計(jì)122
8.3.2人機(jī)界面設(shè)計(jì)132
參考文獻(xiàn)136