1 X射線衍射儀的操作與數(shù)據(jù)測量
1.1 粉末X射線衍射儀的基本原理與構(gòu)造
1.1.1 X射線發(fā)生器
1.1.2 測角儀
1.1.3 X射線強度測量記錄系統(tǒng)
1.2 X射線輻射防護
1.3 X射線衍射儀使用的注意事項
1.4 多晶衍射樣品的制備方法
1.4.1 塊體樣品的制備
1.4.2 粉末樣品的制備
1.4.3 平板試樣制備的其他問題
1.5 測量方式和實驗參數(shù)的選擇
1.6 Rigaku D/max 2500型X射線衍射儀操作實例
2 Jade的基本操作
2.1 Jade的功能
2.2 Jade的用戶界面和基本功能操作
2.2.1 窗口功能
2.2.2 菜單功能
2.2.3 主工具欄和編輯工具欄
2.2.4 彈出菜單
2.2.5 基本顯示操作按鈕
2.2.6 狀態(tài)欄
2.3 程序設(shè)置
2.3.1 顯示設(shè)置（Display）
2.3.2 儀器參數(shù)（Instrument）
2.3.3 報告內(nèi)容設(shè)置（Report）
2.3.4 個性化設(shè)置（Misc）
2.4 數(shù)據(jù)文件格式與讀入文件
2.4.1 讀入衍射數(shù)據(jù)文件
2.4.2 讀入文件的參數(shù)設(shè)置.
2.5 建立PDF數(shù)據(jù)庫檢索文件
2.5.1 建立PDF卡片索引的方法
2.5.2 建立ICSD數(shù)據(jù)庫索引
2.6 尋峰
2.6.1 尋峰操作
2.6.2 尋峰報告
2.7 圖譜擬合
2.7.1 擬合參數(shù)設(shè)置
2.7.2 手動擬合方式
2.7.3 擬合函數(shù)和誤差
2.7.4 擬合整個衍射譜
2.7.5 單峰擬合
2.7.6 分段擬合
2.7.7 擬合報告
2.8 打印預(yù)覽
2.8.1安裝打印機
2.8.2打印預(yù)覽窗口
2.8.3布局設(shè)置
2.9 多譜操作
2.9.1 多譜讀入
2.9.2 多譜操作
2.9.3 多譜比較
2.9.4 多譜顯示與打印
2.9.5 多譜合并
2.9.6 多譜擬合
2.10 根據(jù)d值計算衍射面指數(shù)
3 物相定性分析
3.1 物相的含義
3.2 物相檢索原理
3.3 ICDD PDF卡片
3.4 PDF卡片的檢索與匹配
3.4.1 物相檢索的步驟
3.4.2 判斷一種物相是否存在的三個條件
3.5 物相定性分析的實驗方法
3.5.1 圖譜掃描
3.5.2 Jade物相檢索的條件設(shè)置
3.5.3 Search/Match Display 窗口
3.5.4 確定物相
3.5.5 根據(jù)強峰檢索物相
3.5.6 物相檢索結(jié)果的輸出
3.6 物相定性分析方法的應(yīng)用
3.6.1 合金相分析
3.6.2 礦物相分析
3.6.3 其他材料的物相分析
3.7 X射線衍射物相檢索的特點和局限性
3.7.1 粉末法X射線衍射物相檢索的特點
3.7.2 粉末法X射線衍射物相分析的局限性
3.8 指標(biāo)化
3.8.1 指標(biāo)化原理
3.8.2 指標(biāo)化方法的應(yīng)用
3.9 制作自定義PDF卡片
4 物相定量分析
4.1 質(zhì)量分數(shù)與衍射強度的關(guān)系
4.2 K值法定量
4.2.1 K值法原理
4.2.2 K值法定量的實驗方法
4.3 絕熱法
4.3.1 絕熱法定量的原理
4.3.2 絕熱法定量的實驗方法
4.4 定量分析方法的應(yīng)用
4.4.1 RIR方法的應(yīng)用
4.4.2 內(nèi)標(biāo)法定量分析的應(yīng)用
4.4.3 物相定量方法的評價與使用技巧
4.5 結(jié)晶度計算方法
4.5.1 物質(zhì)結(jié)晶度的概念
4.5.2 結(jié)晶度的計算方法
4.5.3 結(jié)晶度計算方法的應(yīng)用
4.5.4 其他結(jié)晶度的表示方法
5 晶胞參數(shù)的精密化計算
5.1 晶胞參數(shù)精確計算的原理與誤差來源
5.1.1 衍射儀法測量晶胞參數(shù)的原理
5.1.2 衍射儀測量晶胞參數(shù)的誤差來源
5.2 內(nèi)標(biāo)法
5.3 外標(biāo)法
5.3.1 建立角度誤差校正外標(biāo)曲線
5.3.2 外標(biāo)法的應(yīng)用
5.4 晶胞參數(shù)精修的應(yīng)用方法
6 微結(jié)構(gòu)分析
6.1 材料微結(jié)構(gòu)與衍射峰形的關(guān)系
6.1.1 X射線衍射峰的寬度
6.1.2 儀器寬度
6.1.3 物理寬度
6.1.4 樣品物理寬度的求解方法
6.2 微結(jié)構(gòu)計算方法
6.2.1 晶粒細化寬化
6.2.2 微觀應(yīng)變寬化
6.2.3 晶粒細化與微應(yīng)變共同寬化
6.3 測量儀器半高寬曲線
6.4 微結(jié)構(gòu)分析的應(yīng)用
6.5 峰形分析的參數(shù)設(shè)置
7 殘余應(yīng)力測量
7.1 殘余應(yīng)力的概念
7.2 殘余應(yīng)力的測量原理
7.3 實驗方法
7.3.1 樣品準(zhǔn)備
7.3.2 儀器與數(shù)據(jù)測量
7.3.3 測量圖譜
7.4 殘余應(yīng)力測量方法的應(yīng)用
8 Rietveld全譜擬合精修（Jade）
8.1 Rietveld結(jié)構(gòu)精化方法
8.2 全譜擬合精修過程
8.3 物相的讀入
8.3.1 結(jié)構(gòu)相與非結(jié)構(gòu)相
8.3.2 物相的添加
8.4 全局變量精修
8.4.1 背景精修
8.4.2 樣品和儀器校正
8.5 物相參數(shù)精修
8.5.1 峰形函數(shù)和峰形參數(shù)精修
8.5.2 半高寬精修
8.5.3 其他參數(shù)精修
8.6 晶體結(jié)構(gòu)精修
8.7 精修控制
8.7.1 全局精修控制
8.7.2 物相精修控制
8.8 精修顯示與結(jié)果輸出
8.8.1 精修指標(biāo)
8.8.2 精修報告
8.8.3 打印精修報告
8.9 全譜擬合精修的應(yīng)用
8.9.1 晶體物