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X射線檢測(cè)關(guān)鍵技術(shù)與應(yīng)用研究/廈門大學(xué)南強(qiáng)叢書

X射線檢測(cè)關(guān)鍵技術(shù)與應(yīng)用研究/廈門大學(xué)南強(qiáng)叢書

定  價(jià):68 元

叢書名:廈門大學(xué)南強(qiáng)叢書

        

  • 作者:方正 著
  • 出版時(shí)間:2021/3/1
  • ISBN:9787561580684
  • 出 版 社:廈門大學(xué)出版社
  • 中圖法分類:TB302.5 
  • 頁碼:329
  • 紙張:膠版紙
  • 版次:1
  • 開本:16開
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  X射線是一種波長(zhǎng)短、能量大的電磁波,它被發(fā)現(xiàn)至今已有120余年,與其相關(guān)的新理論、新方法層出不窮。X射線現(xiàn)已成為醫(yī)療診斷和工業(yè)檢測(cè)非常常規(guī)的手段之一。
  《X射線檢測(cè)關(guān)鍵技術(shù)與應(yīng)用研究/廈門大學(xué)南強(qiáng)叢書》是在作者多年從事該領(lǐng)域研究的基礎(chǔ)上編撰而成,分上、下兩篇。上篇是X射線影像學(xué),介紹了透射成像和層析成像的基本理論,以及作者在相關(guān)應(yīng)用研究中解決關(guān)鍵問題的創(chuàng)新技術(shù)和方法;下篇為X射線光譜學(xué),介紹了目前主流的光譜分析方法,并結(jié)合作者近期的研究著重闡述了X射線吸收光譜的理論方法、關(guān)鍵技術(shù)和應(yīng)用實(shí)例。
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