本書旨在倡導(dǎo)計(jì)量譜學(xué)工程以獲取前所未及的有關(guān)化學(xué)鍵-電子-聲子-物性受激關(guān)聯(lián)弛豫的定量和動態(tài)信息。主要涉及電子發(fā)射和衍射以及多場聲子譜學(xué)分析原理、積分差譜專利技術(shù)、局域鍵平均近似、化學(xué)鍵受激弛豫、氫鍵非對稱耦合振子對、非鍵電子極化等理論方法。通過改變原子配位、受力、沖擊、受熱、摻雜、水合、電磁輻射等對哈密頓量中的晶體勢進(jìn)行微擾以實(shí)現(xiàn)振動聲子頻率和電子能級的偏移。解析這些偏移并獲得諸如鍵長、鍵能、孤立原子軌道能級、成鍵電子局域釘扎、非鍵電子極化、原子結(jié)合能、結(jié)合能密度、德拜溫度、彈性模量以及配位鍵振動特征轉(zhuǎn)變等基本因變信息以確定相應(yīng)的物理參量，并揭示物質(zhì)行為規(guī)律以實(shí)現(xiàn)有效控制。

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