該書以工程實用性、有效性為出發(fā)點,系統(tǒng)、全面地講述了情況電路分析技術(shù)的主要方法和技術(shù)流程,并針對分析流程中的關(guān)鍵環(huán)節(jié)進行了詳細說明。同時由于電路類別的差異,分別闡述了模擬電路、數(shù)字電路和數(shù);旌想娐吩诜治鲫P(guān)注內(nèi)容和分析方法上的區(qū)別,并給出了示例。此外為了便于項目開展,該書還對項目管理、軟件工具等方面進行了說明,并給出了工程應(yīng)用案例,對讀者起到了理解概念、掌握方法、工程應(yīng)用的示范作用。
本書作為國內(nèi)首本最壞情況電路分析技術(shù)的專業(yè)書籍,以工程實用性、有效性為出發(fā)點,在介紹最壞情況電路分析技術(shù)的概念、起源和現(xiàn)狀的基礎(chǔ)上,系統(tǒng)、全面地講述了最壞情況電路分析技術(shù)的主要方法和技術(shù)流程,并針對分析流程中的關(guān)鍵環(huán)節(jié)進行了詳細說明。
前言
航天系統(tǒng)工程及其運行始終是具有極高風(fēng)險的復(fù)雜工程。當(dāng)對復(fù)雜系統(tǒng)極限運行條件的最大包絡(luò)、組合累計偏差和綜合不確定性的識別與控制不到位時,極易導(dǎo)致航天器性能裕度設(shè)計不足和關(guān)鍵參數(shù)超差,進而造成航天器在軌性能異常、壽命嚴(yán)重衰減甚至任務(wù)失敗。
最壞情況法是一種按照不常發(fā)生的最壞使用條件的組合為基礎(chǔ),進行確保系統(tǒng)可靠性要求的設(shè)計方法。它是一種非概率統(tǒng)計方法,用來分析影響系統(tǒng)功能的設(shè)計參數(shù)和各種內(nèi)、外影響因素處于最壞組合的情況下,系統(tǒng)的功能是否還滿足應(yīng)用要求。
最壞情況電路分析(Worst Case Circuit Analysis,WCCA)技術(shù)是將最壞情況法應(yīng)用于電路設(shè)計中,形成的電路可靠性分析方法。通過在設(shè)計限度內(nèi)分析電路所經(jīng)歷的環(huán)境變化、參數(shù)漂移及輸入漂移出現(xiàn)的極端情況及其組合,開展電路性能分析和元器件應(yīng)力分析,識別影響電路性能及元器件應(yīng)力的主要因素,發(fā)現(xiàn)設(shè)計與可靠性薄弱環(huán)節(jié),對電路是否發(fā)生漂移故障進行預(yù)測,指出設(shè)計改進方向,以提高電路的固有可靠性。
面向航天電子系統(tǒng)的WCCA技術(shù)呼應(yīng)了航天工程系統(tǒng)高可靠、高安全、容差、容錯設(shè)計理念,是航天系統(tǒng)工程的一項重要技術(shù)內(nèi)容。該技術(shù)在我國航天領(lǐng)域起步于20世紀(jì)90年代,是國家軍用標(biāo)準(zhǔn)GJB 450A、航天行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)QJ 1408A中規(guī)定的可靠性、安全性分析項目之一,在我國航天工程領(lǐng)域最早應(yīng)用于神舟載人飛船關(guān)鍵電子設(shè)備的可靠性與長壽命分析工作中。2005年,國軍標(biāo)GJB/Z 223—2005《最壞情況電路分析技術(shù)指南》發(fā)布實施,標(biāo)志著該技術(shù)成為裝備研制過程中的通用關(guān)鍵可靠性工作項目,開始在航天、航空、兵器、船舶、核工業(yè)等國防軍工領(lǐng)域成熟應(yīng)用和發(fā)展,先后在嫦娥月球探測器、北斗導(dǎo)航衛(wèi)星、載人空間站、新一代運載火箭等多個航天重大工程、重點型號的關(guān)鍵分系統(tǒng)和單機上進行了有效應(yīng)用,對復(fù)雜電路系統(tǒng)在“最壞情況”條件下的容差、容錯性能驗證、設(shè)計基線及裕度考核發(fā)揮了重要的靠前把關(guān)作用。
當(dāng)前,我國航天事業(yè)已進入高速發(fā)展期,高質(zhì)量、高效率、高效益的型號研制離不開可靠性、安全性等通用性、基礎(chǔ)性技術(shù)的保障和支撐。以WCCA技術(shù)為代表的一大批可靠性分析技術(shù)也在持續(xù)的自主創(chuàng)新、技術(shù)攻關(guān)、知識積累和成果轉(zhuǎn)化過程中得到衍生和發(fā)展。2017年,中國航天標(biāo)準(zhǔn)化與產(chǎn)品保證研究院發(fā)布了具有完全自主知識產(chǎn)權(quán)的國產(chǎn)WCCA軟件工具及國產(chǎn)核心元器件模型庫,標(biāo)志著我國WCCA技術(shù)在數(shù)據(jù)本土化、模型數(shù)字化和工具平臺化方面取得突破性進展,為該技術(shù)穩(wěn)健可控發(fā)展奠定了堅實基礎(chǔ)。2019年,中國航天科技集團有限公司發(fā)布實施了Q/QJA 721—2019《航天電子產(chǎn)品最壞情況電路分析指南》標(biāo)準(zhǔn),在進一步明確分析對象、擴充分析方法、降低技術(shù)使用門檻的基礎(chǔ)上,有效提高了該技術(shù)的產(chǎn)品通用性和工程適用性,特別是對于軟硬件集成、多物理場耦合等新型系統(tǒng)的覆蓋,為航天工程系統(tǒng)設(shè)計人員開展WCCA自主分析、自我保證提供了重要依據(jù)。
在WCCA技術(shù)在國內(nèi)軍工行業(yè)得到大力推廣和廣泛應(yīng)用的今天,本書總結(jié)了國內(nèi)外相關(guān)研究與應(yīng)用情況,試圖以工程實用性、有效性為出發(fā)點,比較系統(tǒng)、全面地介紹最壞情況電路分析技術(shù)的原理、方法、流程、工具、項目管理以及工程應(yīng)用案例,其目的是為讀者開展最壞情況電路分析提供一本實用指南。
全書共10章。第1章概述了最壞情況電路分析技術(shù)的背景與現(xiàn)狀、最壞情況電路分析的要點與應(yīng)用趨勢。第2 章介紹最壞情況電路分析技術(shù)的主要方法,包括靈敏度分析、元器件應(yīng)力分析、極值分析、平方根分析以及蒙特卡羅分析方法。第3章介紹了最壞情況電路分析技術(shù)流程,包括數(shù)據(jù)要求、電路分割與功能模塊劃分、關(guān)鍵性能參數(shù)確定、性能影響因素分析、最壞情況邊界確定、電路建模與仿真分析、最壞情況電路分析內(nèi)容與流程等內(nèi)容。第4章介紹了模擬電路最壞情況分析的基本技術(shù)方法,包括關(guān)鍵性能參數(shù)確定與影響因素、模擬電路分析的主要內(nèi)容以及應(yīng)用示例。第5章介紹了數(shù)字電路最壞情況分析,包括關(guān)鍵性能參數(shù)確定、主要分析內(nèi)容與方法。第6章介紹了數(shù);旌想娐纷顗那闆r分析方法,包括仿真建模技術(shù)、混合電路分析方法及應(yīng)用示例。第7章介紹了最壞情況電路分析項目管理,包括分析對象與承擔(dān)方的選擇、項目實施時機與計劃、項目實施中的協(xié)調(diào)與監(jiān)管、項目的效益、費用和周期。第8章介紹了計算機輔助最壞情況電路分析,包括軟件介紹、軟件工具的比較和應(yīng)用的功能特點。第9章介紹了最壞情況電路分析案例,比較詳細地介紹了工程應(yīng)用中的兩個完整的型號應(yīng)用分析情況。第10章介紹了最壞情況電路分析技術(shù)展望,涉及軟硬件協(xié)同的最壞情況驗證技術(shù)、機電一體化最壞情況分析技術(shù)以及多物理場耦合最壞情況分析技術(shù)。
書末附錄A、B、C、D、E分別給出了最壞情況電路分析任務(wù)書、輸入數(shù)據(jù)要求、分析報告樣式、參數(shù)數(shù)據(jù)庫以及分析用模型庫的構(gòu)建、管理與維護等,供工程應(yīng)用實踐參考。
本書由任立明、時曉東、張云中、曹鵬合著,并負責(zé)全書內(nèi)容、風(fēng)格的策劃和最終統(tǒng)稿工作。全書寫作和修改分工如下:第1章由任立明負責(zé),第2章由張云中、任立明負責(zé),第3章由時曉東負責(zé),第4章由曹鵬、張亮負責(zé),第5章由楊奇開、程海龍負責(zé),第6章由靳捷、周海京負責(zé),第7章由許皓、李福秋負責(zé),第8章由陳皓、李孝鵬負責(zé),第9章由王志慧、唐潮負責(zé),第10章由時曉東、任立明負責(zé),附錄A和附錄C由劉瑩瑩、張云中負責(zé),附錄B、附錄D和附錄E由時曉東、曹鵬負責(zé),參考文獻由陳皓、唐潮負責(zé)。張云中負責(zé)全書的校對工作,并繪制了第5章的全部圖表。
在本書寫作過程中,得到中國航天標(biāo)準(zhǔn)化與產(chǎn)品保證研究院相關(guān)單位領(lǐng)導(dǎo)和專家的大力支持,卿壽松院長、陳鳳熹總工程師、鄭恒副總工程師、科技委李祚東副主任以及航天通信中心顧長鴻研究員等以專家身份提供了許多有價值的參考意見。可靠性研究所、元器件研究所、產(chǎn)品工程研究所、試驗技術(shù)研究所很多同志為本書做了大量的圖表繪制、電子文檔錄入等方面的工作。同時,中國運載火箭技術(shù)研究院10所王斌研究員,中國空間技術(shù)研究院502所劉波研究員、魯明研究員、張寧高工等對本書寫作給予了鼎力配合,在此一并表示衷心感謝。
在書稿審閱過程中,朱明讓研究員提出了大量有價值的修改意見。作為時任中國航天工業(yè)總公司質(zhì)量監(jiān)督局領(lǐng)導(dǎo),兼任中國航天標(biāo)準(zhǔn)化研究所(現(xiàn)中國航天標(biāo)準(zhǔn)化與產(chǎn)品保證研究院)所長,他也是當(dāng)年研究和引進WCCA技術(shù)軟件和數(shù)據(jù)庫,奠定該項技術(shù)國內(nèi)研究和應(yīng)用基礎(chǔ)的重要呼吁者、支持者和決策者。中國科學(xué)院院士、中國載人航天工程運載火箭系統(tǒng)原總設(shè)計師劉竹生研究員,北斗三號全球衛(wèi)星導(dǎo)航工程副總師謝軍研究員應(yīng)邀參加了書稿審閱,從工程專家的視角對本書的學(xué)術(shù)和工程價值給予高度評價,為本書出版出具了專家推薦意見,在此對前輩學(xué)者專家的鼓勵、支持和指導(dǎo)誠表謝意。
中國工程院院士、中國探月工程(一期)總指揮、國家航天局原局長、原國防科工局科技委主任欒恩杰院士認(rèn)真審閱了全書文稿,就全書定位、章節(jié)安排和諸多技術(shù)細節(jié)反饋了大量真知灼見,以嚴(yán)謹(jǐn)、務(wù)實、科學(xué)、精準(zhǔn)的大家風(fēng)范,激勵和鞭策本書主創(chuàng)團隊再次審視全書,并大篇幅修改完善,有力提升了全書的質(zhì)量和學(xué)術(shù)、工程價值。經(jīng)認(rèn)真審閱全書修改稿后,欒恩杰院士欣然為本書作序,本書主創(chuàng)團隊甚感榮耀,在此特別致謝。
限于時間倉促,水平有限,本書的疏漏在所難免,懇請讀者批評指正。
作者
2019年5月
任立明,男,博士,研究員。國務(wù)院特殊津貼專家,航天科技集團公司學(xué)術(shù)帶頭人。1994年博士畢業(yè)于西北工業(yè)大學(xué),1994-1997年在中國運載火箭技術(shù)研究院“航空與宇航技術(shù)”博士后流動站工作,后調(diào)入中國航天標(biāo)準(zhǔn)化與產(chǎn)品保證研究院工作至今,F(xiàn)任中國航天標(biāo)準(zhǔn)化與產(chǎn)品保證研究院副院長、中國第二代衛(wèi)星導(dǎo)航重大專項質(zhì)量可靠性中心主任。重要學(xué)術(shù)兼職包括國際空間安全性推進委員會(IAASS)中方委員,原總裝備部可靠性專業(yè)組成員,中國航天科技集團公司可靠性專家組副組長、綜合保障專家組副組長。
目錄
第1章最壞情況電路分析技術(shù)概述1
1.1引言1
1.2最壞情況電路分析概念2
1.3最壞情況電路分析技術(shù)發(fā)展現(xiàn)狀2
1.4最壞情況電路分析技術(shù)要點4
1.5技術(shù)研究與應(yīng)用趨勢6
1.6本章小結(jié)7
第2章最壞情況電路分析方法8
2.1引言8
2.2靈敏度分析10
2.2.1靈敏度計算方法10
2.2.2靈敏度仿真分析方法11
2.2.3分析結(jié)果11
2.3最壞情況元器件應(yīng)力分析11
2.3.1最壞情況元器件應(yīng)力分析方法12
2.3.2最壞情況元器件應(yīng)力分析內(nèi)容12
2.3.3最壞情況元器件應(yīng)力分析注意事項12
2.4極值分析14
2.4.1直接代入法14
2.4.2線性展開法14
2.5平方根分析15
2.5.1平方根分析方法16
2.5.2平方根分析內(nèi)容16
2.6蒙特卡羅分析16
2.6.1蒙特卡羅分析方法16
2.6.2蒙特卡羅分析內(nèi)容17
2.7幾種方法的對比17
2.8本章小結(jié)18
第3章最壞情況電路分析技術(shù)流程19
3.1引言19
3.2最壞情況電路分析數(shù)據(jù)要求19
3.3電路分割與功能模塊劃分20
3.4電路關(guān)鍵性能參數(shù)確定21
3.4.1確定方法與原則21
3.4.2電路類型與關(guān)鍵性能參數(shù)21
3.5電路性能影響因素分析24
3.5.1初始容差25
3.5.2溫度26
3.5.3輻射26
3.5.4電磁28
3.5.5老化28
3.6最壞情況邊界確定29
3.7電路分析模型建立30
3.7.1建模方法30
3.7.2電路仿真建模概念與方法31
3.7.3最壞情況電路仿真建模34
3.8最壞情況電路分析內(nèi)容與流程34
3.8.1最壞情況電路性能分析34
3.8.2最壞情況元器件應(yīng)力分析36
3.9最壞情況電路分析報告39
3.10本章小結(jié)39
第4章模擬電路最壞情況分析40
4.1引言40
4.2模擬電路關(guān)鍵性能參數(shù)40
4.2.1典型元器件關(guān)鍵性能參數(shù)40
4.2.2功能模塊關(guān)鍵性能參數(shù)43
4.3模擬電路性能的主要影響因素44
4.3.1初始容差因素44
4.3.2溫度因素46
4.3.3老化因素47
4.3.4輻照因素48
4.4模擬電路最壞情況分析示例51
4.4.1電路功能介紹51
4.4.2電路設(shè)計要求51
4.4.3仿真分析過程52
4.4.4分析結(jié)論53
4.4.5復(fù)核驗證54
4.5本章小結(jié)54
第5章數(shù)字電路最壞情況分析55
5.1引言55
5.2數(shù)字電路關(guān)鍵性能參數(shù)56
5.3數(shù)字電路最壞情況分析內(nèi)容57
5.4數(shù)字電路最壞情況分析方法59
5.4.1通用邏輯分析59
5.4.2最壞情況時序分析64
5.4.3最壞情況負載分析69
5.4.4其他分析考慮74
5.5本章小結(jié)76
第6章數(shù);旌想娐纷顗那闆r分析77
6.1引言77
6.2數(shù);旌想娐贩治龇抡娼<夹g(shù)和方法77
6.2.1概述77
6.2.2典型器件建模方法選擇78
6.2.3復(fù)雜數(shù)字器件建模79
6.3數(shù)模混合電路最壞情況仿真分析82
6.4數(shù);旌想娐贩抡娣治鍪纠83
6.4.1系統(tǒng)構(gòu)成及工作原理83
6.4.2系統(tǒng)建模83
6.4.3仿真分析90
6.5本章小結(jié)92
第7章最壞情況電路分析項目管理93
7.1分析對象選擇93
7.2最壞情況電路分析項目承擔(dān)方選擇93
7.3最壞情況電路分析項目實施時機和計劃94
7.4最壞情況電路分析項目過程協(xié)調(diào)與監(jiān)管94
7.5最壞情況電路分析項目效益、費用與周期95
7.5.1最壞情況電路分析項目效益95
7.5.2最壞情況電路分析項目費用97
7.5.3最壞情況電路分析項目周期99
7.6本章小結(jié)99
第8章計算機輔助最壞情況電路分析101
8.1引言101
8.2最壞情況電路分析輔助軟件系統(tǒng)簡介102
8.2.1概述102
8.2.2與國外最壞情況電路分析輔助軟件工具比較102
8.2.3特點與優(yōu)勢103
8.2.4應(yīng)用價值103
8.3最壞情況電路分析系統(tǒng)功能組成103
8.3.1設(shè)計項目104
8.3.2仿真分析105
8.3.3結(jié)果查看與導(dǎo)出106
8.3.4管理工具108
8.3.5輔助功能108
8.4本章小結(jié)110
第9章最壞情況電路分析案例111
9.1引言111
9.2某型號電源分系統(tǒng)最壞情況分析111
9.2.1電路原理及組成特點111
9.2.2考慮的影響因素及關(guān)注項目113
9.2.3最壞情況分析過程及結(jié)果113
9.2.4結(jié)論117
9.3某型號控制分系統(tǒng)綜合控制器最壞情況分析118
9.3.1電路原理及組成特點118
9.3.2考慮的影響因素及關(guān)注項目119
9.3.3最壞情況分析過程及結(jié)果120
9.3.4結(jié)論122
9.4本章小結(jié)123
第10章最壞情況電路分析技術(shù)展望124
10.1引言124
10.2軟硬件協(xié)同最壞情況驗證技術(shù)124
10.3機電一體化最壞情況分析技術(shù)125
10.4多物理場耦合最壞情況分析技術(shù)126
10.4.1概念126
10.4.2研究現(xiàn)狀127
10.4.3發(fā)展趨勢129
10.5本章小結(jié)130
附錄131
附錄A最壞情況電路分析任務(wù)書示例131
附錄B最壞情況電路分析輸入數(shù)據(jù)要求示例133
附錄C最壞情況電路分析報告樣式示例134
附錄D最壞情況電路分析元器件參數(shù)數(shù)據(jù)庫135
附錄E最壞情況電路分析用模型庫139
定義、術(shù)語與縮略詞表143
參考文獻147