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溫度對微電子和系統(tǒng)可靠性的影響

溫度對微電子和系統(tǒng)可靠性的影響

定  價:32 元

        

  • 作者:(美)Pradeep Lall,(美)Michael G. Pecht,(美)Edward B. Hakim著
  • 出版時間:2008/7/1
  • ISBN:9787118054842
  • 出 版 社:國防工業(yè)出版社
  • 中圖法分類:TN4 
  • 頁碼:15,218頁圖
  • 紙張:膠版紙
  • 版次:1
  • 開本:16K
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本書重點討論了微電子器件失效機理與溫度的關(guān)系、微電子封裝失效機理與溫度的關(guān)系、雙極型晶體管和MOS型場效應晶體管電參數(shù)與溫度的關(guān)系等內(nèi)容,歸納總結(jié)了穩(wěn)態(tài)溫度、溫度循環(huán)、溫度梯度及時間相關(guān)的溫度變化對器件可靠性的影響。
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