目 錄
第4版前言
第3版前言
第2版前言
第1版前言
緒論1
第一篇材料X射線衍射分析3
第一章X射線物理學(xué)基礎(chǔ)5
第一節(jié)X射線的基本性質(zhì)5
第二節(jié)X射線的產(chǎn)生及X射線譜7
第三節(jié)X射線與物質(zhì)的相互作用11
習(xí)題17
第二章X射線的衍射基礎(chǔ)18
第一節(jié)幾何晶體學(xué)簡介18
第二節(jié)X射線晶體衍射原理23
第三節(jié)布拉格定律的相關(guān)討論25
第四節(jié)倒易空間的衍射方程式及
埃瓦爾德圖解27
第五節(jié)多晶體衍射花樣的形成30
第六節(jié)原子散射因子和幾何結(jié)構(gòu)因子31
第七節(jié)洛倫茲因子35
第八節(jié)衍射強度的其他影響因素與
積分強度公式37
習(xí)題39
第三章多晶物相分析41
第一節(jié)照相法41
第二節(jié)衍射儀法43
第三節(jié)定性物相分析50
第四節(jié)定量物相分析54
第五節(jié)點陣參數(shù)測定60
習(xí)題67
第四章應(yīng)力測量與分析68
第一節(jié)測量原理68
第二節(jié)測量方法72
第三節(jié)數(shù)據(jù)處理方法76
第四節(jié)三維應(yīng)力及薄膜應(yīng)力測量80
習(xí)題82
第五章多晶體織構(gòu)測量83
第一節(jié)織構(gòu)分類83
第二節(jié)極圖及其測量83
第三節(jié)反極圖及其測量88
第四節(jié)三維取向分布函數(shù)89
習(xí)題90
第六章三維X射線顯微鏡92
第一節(jié)三維X射線顯微鏡的結(jié)構(gòu)92
第二節(jié)X射線計算機斷層成像97
第三節(jié)X射線衍射襯度斷層成像106
第四節(jié)三維X射線顯微鏡在材料學(xué)
研究中的應(yīng)用110
習(xí)題116
第二篇材料電子顯微分析117
第七章電子光學(xué)及電子顯微學(xué)
基礎(chǔ)119
第一節(jié)電子波與電磁波119
第二節(jié)電磁透鏡的像差與分辨率122
第三節(jié)電磁透鏡的景深和焦長125
第四節(jié)電子束與固體樣品作用時
產(chǎn)生的信號126
習(xí)題128
第八章透射電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)與
工作原理129
第一節(jié)透射電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)與
成像原理129
第二節(jié)主要部件的結(jié)構(gòu)與工作原理134
第三節(jié)透射電子顯微鏡分辨率和放大
倍數(shù)的測定139
習(xí)題141
第九章電子衍射和衍襯成像分析142
第一節(jié)概述142
第二節(jié)電子衍射原理143
第三節(jié)電子顯微鏡中的電子衍射152
第四節(jié)單晶體電子衍射花樣標定155
第五節(jié)復(fù)雜電子衍射花樣158
第六節(jié)薄膜樣品的制備方法160
第七節(jié)薄晶體衍射襯度成像原理163
第八節(jié)衍射運動學(xué)理論165
第九節(jié)衍襯動力學(xué)簡介173
第十節(jié)晶體缺陷分析176
習(xí)題184
第十章高分辨透射電子顯微術(shù)185
第一節(jié)高分辨透射電子顯微鏡的
結(jié)構(gòu)特征185
第二節(jié)高分辨電子顯微像的原理186
第三節(jié)高分辨透射電子顯微術(shù)在材料
科學(xué)中的應(yīng)用195
第四節(jié)高分辨透射電子顯微術(shù)應(yīng)用
實例詳解202
習(xí)題211
材料分析方法第4版目錄第十一章分析透射電子顯微術(shù)212
第一節(jié)電子與物質(zhì)的相互作用212
第二節(jié)掃描透射電子顯微術(shù)214
第三節(jié)原子分辨率EDS218
第四節(jié)電子能量損失譜及能量
過濾成像222
習(xí)題230
第十二章掃描電子顯微鏡和電子
探針231
第一節(jié)掃描電子顯微鏡的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)與
工作原理231
第二節(jié)環(huán)境掃描電子顯微鏡的工作
原理及應(yīng)用233
第三節(jié)掃描電子顯微鏡的主要性能235
第四節(jié)表面形貌襯度原理及其應(yīng)用237
第五節(jié)原子序數(shù)襯度原理及其應(yīng)用242
第六節(jié)電子探針儀的結(jié)構(gòu)與工作原理244
第七節(jié)電子探針儀的分析方法及應(yīng)用248
習(xí)題250
第十三章電子背散射衍射分析
技術(shù)252
第一節(jié)概述252
第二節(jié)電子背散射衍射技術(shù)相關(guān)
晶體學(xué)取向基礎(chǔ)252
第三節(jié)電子背散射衍射技術(shù)硬件系統(tǒng)262
第四節(jié)電子背散射衍射技術(shù)原理及
花樣標定264
第五節(jié)電子背散射衍射技術(shù)成像
及分析268
第六節(jié)電子背散射衍射技術(shù)數(shù)據(jù)處理272
習(xí)題277
第十四章其他顯微分析方法278
第一節(jié)離子探針顯微分析278
第二節(jié)低能電子衍射分析280
第三節(jié)俄歇電子能譜分析284
第四節(jié)場離子顯微鏡與原子探針289
第五節(jié)掃描隧道顯微鏡與原子力
顯微鏡295
第六節(jié)X射線光電子能譜分析300
第七節(jié)紅外光譜303
第八節(jié)激光拉曼光譜311
第九節(jié)紫外�部梢娢�收光譜314
第十節(jié)原子發(fā)射光譜319
第十一節(jié)原子吸收光譜322
第十二節(jié)核磁共振326
習(xí)題331
實驗指導(dǎo)332
實驗一用X射線衍射儀進行多晶體
物質(zhì)的相分析332
實驗二宏觀殘余應(yīng)力的測定335
實驗三金屬板織構(gòu)的測定339
實驗四透射電子顯微鏡結(jié)構(gòu)原理及
明暗場成像342
實驗五選區(qū)電子衍射與晶體取向分析345
實驗六掃描電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)原理及
圖像襯度觀察350
實驗七電子背散射衍射技術(shù)的工作原理與
菊池花樣觀察及標定354
實驗八電子背散射衍射技術(shù)的數(shù)據(jù)
處理及其分析應(yīng)用357
實驗九電子探針結(jié)構(gòu)原理及分析方法360
附錄363
附錄A物理常數(shù)363
附錄B質(zhì)量吸收系數(shù)μl/ρ363
附錄C原子散射因子f364
附錄D各種點陣的結(jié)構(gòu)因子F2HKL365
附錄E粉末法的多重性因數(shù)Phkl365
附錄F角因數(shù)1+cos22θsin2θcosθ366
附錄G德拜函數(shù)�迹▁）x+14之值368
附錄H某些物質(zhì)的特征溫度Θ368
附錄I12cos2θsinθ+cos2θθ的數(shù)值369
附錄J應(yīng)力測定常數(shù)371
附錄K立方系晶面間夾角372
附錄L常見晶體標準電子衍射花樣375
附錄M立方與六方晶體可能出現(xiàn)的
反射379
附錄N特征X射線的波長和能量表380
參考文獻382