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DEM插值算法適應(yīng)性理論與方法

DEM插值算法適應(yīng)性理論與方法

定  價(jià):129 元

叢書(shū)名:空間建模與可視分析叢書(shū)

        

  • 作者:張錦明
  • 出版時(shí)間:2020/5/1
  • ISBN:9787121376177
  • 出 版 社:電子工業(yè)出版社
  • 中圖法分類:P208 
  • 頁(yè)碼:328
  • 紙張:
  • 版次:01
  • 開(kāi)本:16開(kāi)
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讀者對(duì)象:本書(shū)可以作為地圖學(xué)與地理信息工程(系統(tǒng))、環(huán)境科學(xué)與工程、地理學(xué)、地質(zhì)學(xué)、作戰(zhàn)環(huán)境學(xué)等地球科學(xué)領(lǐng)域的研究生或本科生的輔助教材,也可以作為高等院校測(cè)繪科學(xué)與技術(shù)、遙感科學(xué)、地理信息科學(xué)等相關(guān)領(lǐng)域研究人員的科研參考書(shū)。

DEM精度研究是DEM研究體系的重要組成部分,原始數(shù)據(jù)精度、插值算法、地貌類型、采樣數(shù)據(jù)分布特征和尺度是影響DEM精度的主要因素之一。插值算法作為其中的直接因素,地貌類型、采樣數(shù)據(jù)分布特征和尺度等因素通過(guò)插值算法影響DEM精度。因此,從影響DEM插值精度的不同因素出發(fā),研究DEM插值算法的適應(yīng)性問(wèn)題,對(duì)降低DEM插值的不確定性、提高DEM插值精度具有十分重要的意義。本書(shū)圍繞DEM插值參數(shù)、地貌類型適應(yīng)性、采樣數(shù)據(jù)分布特征適應(yīng)性、尺度適應(yīng)性等問(wèn)題展開(kāi)了DEM插值算法適應(yīng)性的研究和實(shí)踐。本書(shū)可以作為地圖學(xué)與地理信息工程(系統(tǒng))、環(huán)境科學(xué)與工程、地理學(xué)、地質(zhì)學(xué)、作戰(zhàn)環(huán)境學(xué)等地球科學(xué)領(lǐng)域的研究生或本科生的輔助教材,也可以作為測(cè)繪科學(xué)與技術(shù)、遙感科學(xué)、地理信息科學(xué)等相關(guān)領(lǐng)域研究人員的科研參考書(shū)。
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