第1章緒論
1.1數(shù)字電路實驗基本知識
1.2常用門電路和觸發(fā)器使用規(guī)則
1.3數(shù)字電路測試及故障查找、排除
1.4常用TTL與CMOS功能相同芯片對照
第2章基礎型實驗
2.1實驗一TTL集成邏輯門的邏輯功能測試
2.2實驗二CMOS門電路測試及接口
2.3實驗三TTL集電極開路門與三態(tài)門的應用
2.4實驗四用門電路設計加法器和四人表決電路
2.5實驗五譯碼器及其應用
2.6實驗六數(shù)據(jù)選擇器及其應用
2.7實驗七集成觸發(fā)器功能測試及相互轉換
2.8實驗八用集成觸發(fā)器構成計數(shù)器
2.9實驗九中規(guī)模集成計數(shù)器的功能測試
2.10實驗十移位寄存器及其應用
2.11實驗十一順序脈沖發(fā)生器及其應用
2.12實驗十二集成定時器555
2.13實驗十三D/A、A/D轉換器
第3章設計型實驗
3.1實驗一用與非門設計1位全加器
3.2實驗二用集成譯碼器設計1位全減器
3.3實驗三用集成數(shù)據(jù)選擇器設計交通燈故障報警電路
3.4實驗四用集成觸發(fā)器設計同步計數(shù)器
3.5實驗五用集成觸發(fā)器設計異步計數(shù)器
3.6實驗六任意進制計數(shù)器的設計(一)
3.7實驗七任意進制計數(shù)器的設計(二)
3.8實驗八單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器和施密特觸發(fā)器設計
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