數(shù)字電子技術(shù)項(xiàng)目教程緒論
項(xiàng)目1 一位二進(jìn)制全加器電路的設(shè)計(jì)與制作
1.1 任務(wù) 門電路邏輯功能測試
1.1.1 門電路邏輯功能測試
1.1.2 知識(shí)點(diǎn) 邏輯代數(shù)的基本運(yùn)算
1.2 任務(wù) TTL門電路、COMS門電路外部特性測試
1.2.1 TTL門電路、COMS門電路外部特性測試
1.2.2 知識(shí)點(diǎn)1 TTL集成門電路
1.2.3 知識(shí)點(diǎn)2 COMS集成門電路
1.3 任務(wù) 組合邏輯電路功能測試
1.3.1 組合邏輯電路功能測試
1.3.2 知識(shí)點(diǎn)1 邏輯代數(shù)的定律和運(yùn)算規(guī)則
1.3.3 知識(shí)點(diǎn)2 邏輯函數(shù)的化簡
1.3.4 知識(shí)點(diǎn)3 組合邏輯電路概述
1.3.5 知識(shí)點(diǎn)4 組合邏輯電路的分析方法
1.4 任務(wù) 組合邏輯電路的設(shè)計(jì)
1.4.1 半加器電路邏輯功能測試
1.4.2 知識(shí)點(diǎn)1 數(shù)制與代碼
1.4.3 知識(shí)點(diǎn)2 組合邏輯電路的設(shè)計(jì)方法
1.4.4 知識(shí)點(diǎn)3 加法電路
1.5 項(xiàng)目技能訓(xùn)練 一位二進(jìn)制全加器電路的設(shè)計(jì)與制作
思考與練習(xí)

項(xiàng)目2 編碼顯示電路的制作
2.1 任務(wù) 編碼器邏輯功能測試
2.1.1 二進(jìn)制編碼器邏輯功能測試
2.1.2 知識(shí)點(diǎn)1 二進(jìn)制編碼器
2.1.3 二-十進(jìn)制編碼器邏輯功能測試
2.1.4 知識(shí)點(diǎn)2 二-十進(jìn)制編碼器
2.2 任務(wù) 譯碼器邏輯功能測試
2.2.1 二進(jìn)制譯碼器邏輯功能測試
2.2.2 知識(shí)點(diǎn)1 二進(jìn)制譯碼器
2.2.3 二-十進(jìn)制譯碼器邏輯功能測試
2.2.4 知識(shí)點(diǎn)2 二-十進(jìn)制譯碼器
2.2.5 顯示譯碼器及l(fā)ed數(shù)碼管功能測試
2.2.6 知識(shí)點(diǎn)3 顯示譯碼器
2.3 項(xiàng)目技能訓(xùn)練 編碼顯示電路的制作
思考與練習(xí)

項(xiàng)目3 由觸發(fā)器構(gòu)成的搶答器的制作
3.1 任務(wù) 基本rs觸發(fā)器邏輯功能測試
3.1.1 知識(shí)點(diǎn)1 觸發(fā)器概述
3.1.2 基本rs觸發(fā)器邏輯功能測試
3.1.3 知識(shí)點(diǎn)2 基本rs觸發(fā)器
3.2 任務(wù) 同步rs觸發(fā)器邏輯功能測試
3.2.1 同步rs觸發(fā)器邏輯功能測試
3.2.2 知識(shí)點(diǎn) 同步rs觸發(fā)器
3.3 任務(wù) 邊沿觸發(fā)器邏輯功能測試
3.3.1 邊沿jk觸發(fā)器邏輯功能測試
3.3.2 知識(shí)點(diǎn)1 邊沿jk觸發(fā)器
3.3.3 邊沿d觸發(fā)器邏輯功能測試
3.3.4 知識(shí)點(diǎn)2 邊沿d觸發(fā)器
3.4 任務(wù) 觸發(fā)器相互轉(zhuǎn)換邏輯功能測試
3.4.1 觸發(fā)器相互轉(zhuǎn)換邏輯功能測試
3.4.2 知識(shí)點(diǎn) 觸發(fā)器的相互轉(zhuǎn)換
3.5 項(xiàng)目技能訓(xùn)練 由觸發(fā)器構(gòu)成的搶答器的制作
思考與練習(xí)

項(xiàng)目4 數(shù)字電子鐘的設(shè)計(jì)與制作
4.1 任務(wù) 同步計(jì)數(shù)器邏輯功能測試
4.1.1 知識(shí)點(diǎn)1 時(shí)序邏輯電路概述
4.1.2 知識(shí)點(diǎn)2 同步時(shí)序電路的分析
4.1.3 同步計(jì)數(shù)器邏輯功能測試
4.1.4 知識(shí)點(diǎn)3 同步計(jì)數(shù)器
4.2 任務(wù) 異步計(jì)數(shù)器邏輯功能測試
4.2.1 異步計(jì)數(shù)器邏輯功能測試
4.2.2 知識(shí)點(diǎn) 異步計(jì)數(shù)器
4.3 任務(wù) 寄存器邏輯功能測試
4.3.1 寄存器邏輯功能測試
4.3.2 知識(shí)點(diǎn) 寄存器
4.4 項(xiàng)目技能訓(xùn)練 數(shù)字電子鐘的設(shè)計(jì)與制作
思考與練習(xí)

項(xiàng)目5 電子門鈴電路的制作
5.1 任務(wù) 555定時(shí)器電路測試
5.1.1 555定時(shí)器邏輯功能測試
5.1.2 知識(shí)點(diǎn)1 555定時(shí)器電路的結(jié)構(gòu)及其功能
5.1.3 555定時(shí)器構(gòu)成的施密特觸發(fā)器功能測試
5.1.4 知識(shí)點(diǎn)2 555定時(shí)器構(gòu)成施密特觸發(fā)器
5.1.5 555定時(shí)器構(gòu)成的單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器功能測試
5.1.6 知識(shí)點(diǎn)3 555定時(shí)器構(gòu)成單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器
5.1.7 555定時(shí)器構(gòu)成的多諧振蕩器功能測試
5.1.8 知識(shí)點(diǎn)4 555定時(shí)器構(gòu)成多諧振蕩器
5.2 項(xiàng)目技能訓(xùn)練 電子門鈴電路的制作
思考與練習(xí)

項(xiàng)目6 循環(huán)彩燈電路的制作
6.1 任務(wù) 數(shù)據(jù)選擇器邏輯功能測試
6.1.1 數(shù)據(jù)選擇器邏輯功能測試
6.1.2 知識(shí)點(diǎn) 數(shù)據(jù)選擇器
6.2 任務(wù) 數(shù)據(jù)分配器邏輯功能測試
6.2.1 數(shù)據(jù)分配器邏輯功能測試
6.2.2 知識(shí)點(diǎn) 數(shù)據(jù)分配器
6.3 任務(wù) 存儲(chǔ)器和可編程邏輯器件介紹和應(yīng)用
6.3.1 知識(shí)點(diǎn)1 存儲(chǔ)器
6.3.2 知識(shí)點(diǎn)2 可編程邏輯器件
6.4 項(xiàng)目技能訓(xùn)練 循環(huán)彩燈電路的制作
思考與練習(xí)

項(xiàng)目7 數(shù)字電壓表的制作
7.1 任務(wù) adc邏輯功能測試
7.1.1 adc邏輯功能測試
7.1.2 知識(shí)點(diǎn)1 adc的基本工作原理
7.1.3 知識(shí)點(diǎn)2 并行比較型adc
7.1.4 知識(shí)點(diǎn)3 逐次逼近型adc
7.1.5 知識(shí)點(diǎn)4 雙積分型adc
7.1.6 知識(shí)點(diǎn)5 adc的主要技術(shù)指標(biāo)
7.1.7 知識(shí)點(diǎn)6 集成adc芯片舉例
7.2 任務(wù) dac邏輯功能測試
7.2.1 dac邏輯功能測試
7.2.2 知識(shí)點(diǎn)1 dac的基本工作原理
7.2.3 知識(shí)點(diǎn)2 倒t形電阻網(wǎng)絡(luò)dac
7.2.4 知識(shí)點(diǎn)3 dac的主要技術(shù)指標(biāo)
7.2.5 知識(shí)點(diǎn)4 集成dac芯片舉例
7.3 項(xiàng)目技能訓(xùn)練 簡易數(shù)字電壓表的制作
思考與練習(xí)
附錄
附錄a 電子電路設(shè)計(jì)的一般流程
附錄b 常用的TTL系列與COMS系列器件對(duì)比表
附錄c 常見集成芯片引腳排列圖
附錄d 數(shù)字電路器件型號(hào)命名方法
附錄e 項(xiàng)目測試報(bào)告格式
參考文獻(xiàn)