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光學(xué)測(cè)試技術(shù)(第2版)

光學(xué)測(cè)試技術(shù)(第2版)

定  價(jià):28 元

叢書名:面向21世紀(jì)高等院校精品規(guī)劃教材

        

  • 作者:沙定國(guó) 主編
  • 出版時(shí)間:2010/1/1
  • ISBN:9787564025649
  • 出 版 社:北京理工大學(xué)出版社
  • 中圖法分類:TH740.6 
  • 頁(yè)碼:200
  • 紙張:
  • 版次:1
  • 開本:16開
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本書是一門專業(yè)技術(shù)基礎(chǔ)課程教材,適合于光學(xué)工程、光電技術(shù)、測(cè)控技術(shù)與儀器各專業(yè)。本書系統(tǒng)介紹了光學(xué)測(cè)試中七種主要測(cè)試技術(shù)的基本理論、主要應(yīng)用、測(cè)試方法和測(cè)量誤差分析等。在教材內(nèi)容上既注重基礎(chǔ)理論及實(shí)用性,又注意選擇國(guó)內(nèi)外有重要應(yīng)用價(jià)值的光學(xué)測(cè)試新技術(shù),其中不少是作者自己近年來的科研成果。因而使本教材既拓寬了知識(shí)面,又能適應(yīng)光學(xué)測(cè)試近期發(fā)展的需要。各章附思考與練習(xí)題、參考文獻(xiàn),便于自學(xué)和組織教學(xué)。
本書所介紹的測(cè)試技術(shù),不僅適用于光學(xué)行業(yè),對(duì)航空航天、計(jì)量、測(cè)繪、機(jī)械、輕工等部門的有關(guān)行業(yè)也有實(shí)用價(jià)值。所以,本書還可供這些行業(yè)從事科研、生產(chǎn)的工作人員參考。
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