從１９６２年高海拔核測試導(dǎo)致的Ｔｅｌｅｓｔａｒ衛(wèi)星失效開始，自然或人造輻射可能干擾電子設(shè)備的操作這一事實已被人們所知曉。今天，航天器高度依賴于電子學(xué)。因此，空間輻射效應(yīng)必須在設(shè)計階段就予以考慮，以保證這些項目的高可靠性和安全性要求。即使宇航級器件存在，在設(shè)計和／或制造層面采用所謂的輻射效應(yīng)“加固”，它們相比于同等貨架產(chǎn)品（ＣｏｍｍｅｒｃｉａｌＯｆｆＴｈｅＳｈｅｌｆ，ＣＯＴＳ） 的高成本和低性能導(dǎo)致其用于空間的元器件量產(chǎn)（不是專門設(shè)計用于空間） 是準(zhǔn)強(qiáng)制性的。這給未來任務(wù)的可行性和成功帶來一個巨大挑戰(zhàn)：一方面，必須盡可能地理解空間環(huán)境的本質(zhì)和變化性；另一方面，必須評價空間環(huán)境對電子器件的影響，考慮持續(xù)演化的技術(shù)和多種多樣的器件種類。
　　此外，隨著制造技術(shù)的持續(xù)發(fā)展，納米電子器件的特點（晶體管的尺寸、操作頻率）導(dǎo)致其潛在地對地球大氣，甚至地面上的粒子敏感。各種各樣應(yīng)用中的大量集成電路產(chǎn)生一個不可忽略的概率：晶體管出現(xiàn)錯誤，統(tǒng)稱為“ＳＥＥ”
　　（ＳｉｎｇｌｅＥｖｅｎｔＥｆｆｅｃｔｓ，單粒子效應(yīng)），源于大氣中子與硅中原子核反應(yīng)產(chǎn)生的二次粒子電離。這使得高可靠性／安全性的應(yīng)用必須強(qiáng)制地在應(yīng)用設(shè)計的前期考慮這些問題，引入需要的硬件／軟件錯誤耐受性機(jī)制。
　　估計一個器件或架構(gòu)對輻射的敏感性是深入了解輻射對可靠性／安全性層次影響的強(qiáng)制步驟。這樣一個步驟要求輻射地面測試，即所謂的加速測試，通過輻射裝置，如粒子加速器或激光設(shè)備，和對應(yīng)用環(huán)境建模的軟件工具來執(zhí)行。這樣的估計，尤其對于導(dǎo)致存儲器單元內(nèi)容擾動的單粒子翻轉(zhuǎn)（ＳＥＵ），也可能要求實現(xiàn)故障注入；在故障注入中，輻射效應(yīng)的影響在對目標(biāo)器件合適描述可用的層次被考慮�；�于不使用束流的故障注入方法獲得結(jié)果的實現(xiàn)和利用構(gòu)成了一個寶貴的信息源，涉及應(yīng)用的ＳＥＥ敏感性估計和一個設(shè)計或架構(gòu)潛在的、應(yīng)被加固的弱點識別。
　　本書致力于為讀者提供重要的指南，用于處理當(dāng)今空間以及高海拔大氣或地面應(yīng)用中應(yīng)當(dāng)包括的元器件輻射效應(yīng)。本書包括一系列章節(jié)，基于２００５年１１月２０－２５日在巴西瑪瑙斯市舉辦的“用于空間的嵌入式系統(tǒng)輻射效應(yīng)國際學(xué)�！�
　　的內(nèi)容。本書共分十二章，前三章分別涉及空間輻射環(huán)境的分析和建模、電子器件輻射效應(yīng)的基礎(chǔ)機(jī)理、累積或瞬態(tài)輻射效應(yīng)導(dǎo)致的一系列已知的電子器件飛行異常案例描述。
　　接著的三章致力于多級錯誤效應(yīng)的評價、輻射對模擬和混合信號電路的影響［轉(zhuǎn)變?yōu)閱瘟Ｗ铀矐B(tài)（ＳＥＴ）和單粒子翻轉(zhuǎn)（ＳＥＵ）］、用于ＳＥＵ模擬的脈沖激光技術(shù)基理。
　　后續(xù)的三章涉及輻射效應(yīng)的減緩技術(shù)：用于ＣＭＯＳ技術(shù)、保護(hù)電路不受輻射效應(yīng)影響的設(shè)計加固（ＨＢＤ） 方法學(xué)，ＦＰＧＡ中的輻射效應(yīng)和相關(guān)的緩和技術(shù)，設(shè)計加固自動工具的研究和進(jìn)展。
　　最后三章致力于ＳＥＥ和劑量測試的裝置描述、數(shù)字架構(gòu)錯誤率預(yù)計的測試方法學(xué)和工具以及一個脈沖激光系統(tǒng)用于研究輻射導(dǎo)致的集成電路單粒子瞬態(tài)的可能性。列出了三個案例研究，用于說明這種技術(shù)空間和時間分辨率的優(yōu)點。
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